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为自动测试系统设计的系统就绪电源，助您简化系统集成时间，加快测试速度

半个多世纪以来，是德科技的自动测试设备（ATE）电源不断改变工程师们的工作方式，为他们验证设计、诊断问题以及确保产品质量提供了充足的电源保障。 是德科技的可编程 ATE 电源采用了紧凑型设计，能够轻松整合到各种系统中。 是德科技电源配有现代化接口和 LXI-core 功能，并支持 SCPI 语言，可以非常方便地更新测试程序。 此外，是德科技 ATE 电源还能够快速处理命令，快速实现稳定，有助于提高测试速度。

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Keysight 的 ATE 电源

为您的系统选择合适的 ATE 电源

  • 选择 Keysight N5700 和 N8700 系列ATE 电源，在满足性能需求的同时，操作也非常简单。 紧凑型设计使其非常易于整合。
  • 选择 Keysight N6700 系列模块化电源，轻松满足您的测试要求。 N6700 系列是我们最受欢迎的 ATE 电源，可在 1U 高的主机内提供多达四路输出。 一个电源或电子负载模块驱动一路输出；您可以选择一个模块来添加或修改一路输出，从而匹配您的测试计划。
  • Keysight N6900 和 N7900 ATE 电源的每路输出可提供 1000 W 或 2000 W 的功率。 作为我们最先进的系统就绪电源，它们可选配耗散器，实现类似于双极性电源的完整两象限工作。

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三种方法提高 ATE 电源吞吐量

提高 ATE 电源吞吐量

本白皮书将向您说明如何提高吞吐量，降低成本。 更快的编程与命令处理、并行器件测试、内置输出排序以及具有快速瞬态响应时间的任意波形生成，这些功能特性结合起来，可以大大提升吞吐量。 更快的测试速度有助于您实施更严格的器件测试，降低虚假合格率和虚假不合格率。

How to Boost ATE Power Supply Throughput

整合并配置您的 ATE 系统电源

作为测试系统工程师，您面临着层出不穷的新验证要求，为此必须不断修改测试计划。 应对这些挑战非常困难，但还是有一些方法可以确保您最充分地发挥系统电源的功效。 您可以通过是德科技电子书学习这些方法：

4 Tips for Integrating and Using an ATE System Power Supply

Keysight ATE System Power Supply eBook

使用适合的工具扩展您的测试能力

技术在不断变化。 同样，工程师们也一直面临着应对这种变化的要求。 通过搭配正确的附件来提高生产力；通过采用正确的 Keysight PathWave 设计和测试自动化软件来加速您的产品开发；从而让您现有的硬件发挥出更多潜在功能。

ATE 系统电源特色资源

Solution Briefs 2024.01.17

Custom RP7900 Rack Up to 1500 V / 720 A / 240 kW

Custom RP7900 Rack Up to 1500 V / 720 A / 240 kW

Our custom power supply rack offers a reliable and feature-rich solution for a wide range of applications. With its exceptional transient response, battery emulation and test capabilities, and the ability to test DC-DC converters, our power supply rack provides a robust test platform.

2024.01.17

eBooks 2023.07.21

4 Tips for Integrating and Using an ATE System Power Supply

4 Tips for Integrating and Using an ATE System Power Supply

Get the most out of your ATE system power supply. Tips include rack integration, DUT protection, and understanding output characteristics.

2023.07.21

Application Notes 2022.04.20

Optimize Power Source Integrity Under Large Load Transients

Optimize Power Source Integrity Under Large Load Transients

Today’s integrated circuits are operating faster than ever. The increased operating speed can lead to highly dynamic power demand from the power supply, which poses a challenge during testing when you source power using programmable power supplies. The high-speed current waveforms can lead to voltage drops at the integrated circuit. If it is severe enough, the voltage drop can reset the microprocessor or cause anomalies in your test results. This application note explains why this voltage drop occurs and offers several ways to achieve the lowest possible voltage drop by selecting optimal load leads and power supplies and using local bypassing.

2022.04.20

Application Notes 2015.02.15

Mastering Your High-Power Test Applications

Mastering Your High-Power Test Applications

Read these 5 tips to help you achieve success for a wide variety of high-power test applications using a DC power supply.

2015.02.15

Application Notes 2017.12.01

Trends in Programmable Power System DC Power Supplies

Trends in Programmable Power System DC Power Supplies

Trends in programmable DC power supplies continue to change. See how the N5700 Series power supplies up to 1500 W helps you stay up to date in a variety of industries.

2017.12.01

Application Notes 2017.12.01

Life Testing and Durability Test Systems

Life Testing and Durability Test Systems

What is durability test? See why managing high-power DC requirements for new product life and durability testing (life testing) is critical in competitive markets.

2017.12.01

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