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Discontinued Phase Noise Systems

Product support information for your discontinued phase noise systems products.
 

  • 71707A 微波下变频器,1.5 GHz - 26.5 GHz [已淘汰] 71707A 微波下变频器,1.5 GHz - 26.5 GHz [已淘汰] 

    71707A 微波下变频器,1.5 GHz - 26.5 GHz [已淘汰]

    71707A 微波下变频器将微波信号转换成射频频率,可与 3048A 相位噪声测量系统配合使用

  • 70428A 微波信号源模块 [已淘汰] 70428A 微波信号源模块 [已淘汰] 

    70428A 微波信号源模块 [已淘汰]

    Keysight 70428A 微波信号源模块可为您的 MMS 系统添加微波信号源能力,但要求系统提供 4 个空闲插槽

  • 71708A 微波信号源,2.4 GHz - 25.8 GHz [已淘汰] 71708A 微波信号源,2.4 GHz - 25.8 GHz [已淘汰] 

    71708A 微波信号源,2.4 GHz - 25.8 GHz [已淘汰]

    Keysight 71708A 微波信号源可为雷达系统、相位噪声测量系统或用于微波接收机测试的测试信号源生成完美的替代 LO

  • 70427A 微波下变频器模块 [已淘汰] 70427A 微波下变频器模块 [已淘汰] 

    70427A 微波下变频器模块 [已淘汰]

    70427A 微波下变频器模块将微波信号转换成射频频率

  • 4352S 4352S信号测试系统,10 MHz至12.6 GHz [已淘汰] 4352S 4352S信号测试系统,10 MHz至12.6 GHz [已淘汰] 

    4352S 4352S信号测试系统,10 MHz至12.6 GHz [已淘汰]

    4352S信号测试系统,10 MHz至12.6 GHz

  • 43521A Downconverter Unit  [已淘汰] 43521A Downconverter Unit [已淘汰] 

    43521A Downconverter Unit [已淘汰]

    The Keysight 43521A Downconverter Unit is designed to operate with the Keysight 4352S VCO/PLL signal test system.

  • E5052A 信号源分析仪10 MHz至7 GHz, 26.5 GHz 或 110GHz [已淘汰] E5052A 信号源分析仪10 MHz至7 GHz, 26.5 GHz 或 110GHz [已淘汰] 

    E5052A 信号源分析仪10 MHz至7 GHz, 26.5 GHz 或 110GHz [已淘汰]

    Keysight E5052A信号分析仪运用E5001A SSA-J软件可提供高达飞秒分辨率的精确时钟抖动分析。

  • E5501A 相位噪声测量解决方案,50 kHz ~ 1.6 GHz [已淘汰] E5501A 相位噪声测量解决方案,50 kHz ~ 1.6 GHz [已淘汰] 

    E5501A 相位噪声测量解决方案,50 kHz ~ 1.6 GHz [已淘汰]

    E5501A 相位噪声测量解决方案可最大程度地缩短 1 端口 VOC、DRO、晶体振荡器以及合成器的 ATE 测试时间

  • E5501B 相位噪声测量解决方案,50 kHz ~ 1.6 GHz [已淘汰] E5501B 相位噪声测量解决方案,50 kHz ~ 1.6 GHz [已淘汰] 

    E5501B 相位噪声测量解决方案,50 kHz ~ 1.6 GHz [已淘汰]

    E5501B 相位噪声测量解决方案缩短了用于 1 端口 VOC、DRO、晶体振荡器以及合成器的 ATE 测试时间

  • E5502A 相位噪声测量解决方案,50 kHz ~ 6.0 GHz [已淘汰] E5502A 相位噪声测量解决方案,50 kHz ~ 6.0 GHz [已淘汰] 

    E5502A 相位噪声测量解决方案,50 kHz ~ 6.0 GHz [已淘汰]

    Keysight E5502A 相位噪声测量解决方案旨在最大程度地缩短 1 端口 VCO、DRO、晶体振荡器以及合成器的 ATE 测试时间

  • E5502B 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 6 GHz [已停产] E5502B 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 6 GHz [已停产] 

    E5502B 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 6 GHz [已停产]

    E5502B 相位噪声测量解决方案缩短了用于 1 端口 VOC、DRO、晶体振荡器以及合成器的 ATE 测试时间

  • E5503A 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 18.0 GHz [已淘汰] E5503A 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 18.0 GHz [已淘汰] 

    E5503A 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 18.0 GHz [已淘汰]

    E5503A 相位噪声测量解决方案可最大程度地缩短 1 端口 VOC、DRO、晶体振荡器以及合成器的 ATE 测试时间

  • E5503B 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 18 GHz [已淘汰] E5503B 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 18 GHz [已淘汰] 

    E5503B 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 18 GHz [已淘汰]

    E5503B 相位噪声测量解决方案缩短了用于 1 端口 VOC、DRO、晶体振荡器以及合成器的 ATE 测试时间

  • E5504A 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 26.5 GHz [已淘汰] E5504A 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 26.5 GHz [已淘汰] 

    E5504A 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 26.5 GHz [已淘汰]

    E5503A 相位噪声测量解决方案可最大程度地缩短 1 端口 VOC、DRO

  • E5504B 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 26.5 GHz [已淘汰] E5504B 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 26.5 GHz [已淘汰] 

    E5504B 相位噪声测量解决方案,50kHz ~ 26.5 GHz [已淘汰]

    E5504B 相位噪声测量解决方案缩短了用于 1 端口 VOC、DRO