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自动 X 射线检测

是德正在退出自动光学检测和自动 x 射线检测业务。是德将会遵守现有的保修和支持合同,在支持期满前继续为客户提供备用部件、时间和材料服务和自我支持选件。产品的支持期限为停产后七年,从 2009 年 3 月 1日算起。

有关该退出声明的常见问题解答列表,请访问: www.keysight.com/find/inspection.

不过,是德仍将全力以赴扩展其在印刷电路板组装测试市场中的在线测试(ICT)功能测试产品系列。

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    新一代 Medalist x6000 自动 X 射线检测系统使用数字合成层析成像(digital tomosynthesis)技术,满足了大多数中等到高度复杂的电路板组件生产线的生产速度要求,并且具有很高的缺陷检测覆盖率,能够显著降低转化成本。

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    Medalist 5DX 可有效地降低成本,减少资金投入,并具有高达 95% 的缺陷检测覆盖率,确保产品的质量和可靠性。