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受限接入测试产品 Super 7 套件

CET awards

  1. 覆盖扩展技术
  2. 焊珠探测技术
  3. IEEE 1149.1 InterconnectPlus 边界扫描
  4. IEEE 1149.6 边界扫描
  5. 硅钉
  6. DriveTh
  7. 接入顾问

查看是德 获奖里程碑

覆盖扩展技术赢得 7 项业界大奖。 查看覆盖扩展技术如何帮助您克服受限接入难题。

在 PCB 铜线上简单地添加微小焊珠,便可成功接入测试并节省成本。 查看焊珠探测技术如何工作

是否仍在使用旧的 Keysight TestJet 技术? 现在正是升级到通用性极高且功能强大­?VTEP v2.0 Powered 非矢量测试套件的最佳时机!

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需要业界领先的在线测试平台? 了解有关 Medalist i3070 系统的更多信息

  • Bead probe Bead probe 

    Bead probe

    甚至可以测试高速走线和空间有限的 PCBA 。它不受版图的影响,这意味着与测试焊点不同,加入焊珠探头不会中断走线。

  • DriveThru DriveThru 

    DriveThru

    将 DriveThru 与 VTEP 结合使用,用户可以只通过 1 个测试点即可测试器件引脚和连接到器件引脚的无源器件

  • IEEE 1149.1 InterconnectPlus 边界扫描 IEEE 1149.1 InterconnectPlus 边界扫描 

    IEEE 1149.1 InterconnectPlus 边界扫描

    是德的边界扫描解决方案符合 IEEE 1149.1 标准,能够执行快速、自动的合格 /不合格测试,可以检测到器件的每个引脚从而做出维修。

  • IEEE 1149.6 边界扫描 IEEE 1149.6 边界扫描 

    IEEE 1149.6 边界扫描

    扩展的边界扫描可根据 IEEE 标准测试高速交流耦合差分信号

  • Silicon nail Silicon nail 

    Silicon nail

    将有边界扫描功能的器件作为驱动器/接收机使用,以测试非边界扫描器件。

  • 接入顾问(Access Consultant) 接入顾问(Access Consultant) 

    接入顾问(Access Consultant)

    此软件综合了所有不同的限制接入工具,使您能够更好地管理更适合自身需求的策略

  • N1169A-003 覆盖扩展技术 N1169A-003 覆盖扩展技术 

    N1169A-003 覆盖扩展技术

    VTEP 非矢量电容耦合技术和边界扫描之间的混合技术。

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