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数字测试

特性 Medalist 3070 Medalist i5000
矢量应用速率 6、12、20 MPs 6 MPs
驱动器电平电压 -3 至 5 V 0 至 5 V
计时设置
驱动器/接收机偏置
转换速率 在 25 至 250 V/us 之间进行调整 固定的上升/下降时间为 12nS
接收机阀值 双阀值 单阀值
支持的非矢量测试类型 TestJet 和 VTEP TestJet 和 VTEP
连接检测

"是德在线测试系统可对基本逻辑电路、定制 ADIC 执行基于矢量的数字测试。 是德在线测试系统 — Medalist 3070 和 i5000 - 提供领先的数字在线测试功能,使您的产品具备出色的测试范围、精度、可重复性和可移植性,从而帮助您更快地将产品投放市场。

是德在线测试系统采用易于理解、基于矢量的矢量控制语言(VCL)来执行数字测试。 这种结构编程语言可为单个器件或多组数字器件编写测试。 基于矢量的测试将一系列矢量应用到器件中,并比较器件的实际响应与预期响应。 根据响应来判定测试通过与否。

借助高精度的驱动器和接收机,确保驱动器缘位置精度在 10 ns 以内可保证 ICT 系统执行可重复的数字测试。

ICT 系统的体系结构支持多达 1280 亿个码型的大矢量码型集,无需重载引脚 RAM。

作为数字测试的另一个重要工具,Keysight Safeguard In-Circuit 针对数字在线测试提供可靠、稳定和安全的反驱动解决方案,以便保护电路板上的上游器件。 Keysight Safeguard 技术通过查看电路板拓扑,确定在测试执行时需要进行反驱动的上游器件,进而设置测试的最大安全反驱动时间。 此外,在线程序发生器(IPG)通过对上游器件进行多级禁用,可以生成测试。

全新的非多路复用引脚卡作为 Keysight Medalist i5000 在线测试系统的关键特性,可为每个引脚提供高精度、完全编程的数字通道。 这便为数字测试带来极大的灵活性,可让 i5000 软件快速生成夹具构建文件,从而使您在最短的时间内把产品投入生产。

Keysight i5000 提供每秒 600 万个码型(MPs)的矢量应用速率,3070 ICT 系统提供高达 20 MPs 的速率。

适用于数字测试的其它 ICT 测试技术包括:

  • 能够对闪存和 PLD 器件编程
  • 边界扫描包括硅探针测试和 ScanWorks 边界扫描解决方案。
  • 动态测试接入套件 - 接入顾问、DriveThru、硅探针、AwareTest xi 以及互连与边界扫描产品,可用于处理因测试探头接入受限而引起的问题

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