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已停产和废型的参数测试设备

  • 4140B pA 表/直流电压电源[已淘汰] [已淘汰] 4140B pA 表/直流电压电源[已淘汰] [已淘汰] 

    4140B pA 表/直流电压电源[已淘汰] [已淘汰]

    4140B 已于 2000 年 11 月 1 日停产,并于 2006 年 1 月 1 日废型。

  • 4142B 模块化直流电源/监测器[已淘汰] [已淘汰] 4142B 模块化直流电源/监测器[已淘汰] [已淘汰] 

    4142B 模块化直流电源/监测器[已淘汰] [已淘汰]

    4142B 已于 2003 年 7 月 1 日停产,并于 2008 年 9 月1 日废型。

  • 4145A/B 4145A/B 半导体参数分析仪[已淘汰] [已淘汰] 4145A/B 4145A/B 半导体参数分析仪[已淘汰] [已淘汰] 

    4145A/B 4145A/B 半导体参数分析仪[已淘汰] [已淘汰]

    4145A 已于 1986 年 3 月 1 日停产,并于 1993 年 11 月 1 日废型;4145B 已于 1994 年 11 月 1 日停产,并于 1999 年 11 月 1 日废型。

  • 4155A / 4156A / 41501A 半导体参数分析仪 [已淘汰] 4155A / 4156A / 41501A 半导体参数分析仪 [已淘汰] 

    4155A / 4156A / 41501A 半导体参数分析仪 [已淘汰]

    4155A、4156A 和 41501A 已经于 1998 年 1 月 1 日停产,并于 2003 年 1 月 31 日成为废型。

  • 4155B / 4156B 半导体参数分析仪 [已淘汰] 4155B / 4156B 半导体参数分析仪 [已淘汰] 

    4155B / 4156B 半导体参数分析仪 [已淘汰]

    4155B 和 4156B 已经于 2000 年 12 月 1 日停产,并于 2006 年 2 月 1 日成为废型。

  • 4280A 1 MHz C 表/C-V 绘图仪[已淘汰] [已淘汰] 4280A 1 MHz C 表/C-V 绘图仪[已淘汰] [已淘汰] 

    4280A 1 MHz C 表/C-V 绘图仪[已淘汰] [已淘汰]

    4280A 已于 2000 年 11 月 1 日停产,并于 2006 年 1 月 1 日废型。

  • E5270A / E5272A / E5273A 参数测量解决方案[断货] [已淘汰] E5270A / E5272A / E5273A 参数测量解决方案[断货] [已淘汰] 

    E5270A / E5272A / E5273A 参数测量解决方案[断货] [已淘汰]

    E5270A、E5272A 和 E5273A 已于 2004 年 11 月 1 日停产,支持服务截止日期为 2012 年 12 月 31 日。

  • 4157B 模块化半导体参数分析仪[断货] [已淘汰] 4157B 模块化半导体参数分析仪[断货] [已淘汰] 

    4157B 模块化半导体参数分析仪[断货] [已淘汰]

    4157B 可在基于 PC 的测量环境中具备出色的灵活性、可扩展性和可升级性,从而为参数测量和分析提供完整的解决方案。

  • VPA/PME 软件[断货] [已淘汰] VPA/PME 软件[断货] [已淘汰] 

    VPA/PME 软件[断货] [已淘汰]

    VPA/PME 可以帮助您形象地分析、处理、管理和重新使用大量的测试数据,从而减少在半导体制程、开发和集成环境中的参数测量时间。

  • B1507A 功率器件电容分析仪 [已淘汰] B1507A 功率器件电容分析仪 [已淘汰] 

    B1507A 功率器件电容分析仪 [已淘汰]

    • 测量所有的 CV 参数
    • 简单易用、全自动测量
    • 工作电压偏置高达 3 kV

  • N9201A 阵列结构参数测试系统[断货] [已淘汰] N9201A 阵列结构参数测试系统[断货] [已淘汰] 

    N9201A 阵列结构参数测试系统[断货] [已淘汰]

    支持多达 40 个 SMU,可对在线阵列测试结构进行极快的表征。

  • 半导体参数分析仪系列 [已停产] 半导体参数分析仪系列 [已停产] 

    半导体参数分析仪系列 [已停产]

    A comprehensive set of instrument solutions for parametric test, usable standalone or through provided Windows-based software

  • 可靠性测试[ [已停产] 可靠性测试[ [已停产] 

    可靠性测试[ [已停产]

    ASUR(高级可扩展标准化可靠性)产品系列提供一系列半导体可靠性测试结构、测量和分析(C1280A、C1281A 和 C1282A)。

  • 已停产的产品 – I/CV 3.0 Lite 自动测试软件[已停止生产] [已淘汰] 已停产的产品 – I/CV 3.0 Lite 自动测试软件[已停止生产] [已淘汰] 

    已停产的产品 – I/CV 3.0 Lite 自动测试软件[已停止生产] [已淘汰]

    在基于 PC 的环境中为参数仪器提供交互式和自动化控制。

  • 已停产的参数测试系统[已停止生产] [已停产] 已停产的参数测试系统[已停止生产] [已停产] 

    已停产的参数测试系统[已停止生产] [已停产]

    提供广泛的系统配置以满足您对生产参数测试的需求。

  • 平面显示器测试系统 [已停产] 平面显示器测试系统 [已停产] 

    平面显示器测试系统 [已停产]

  • 系列集成参数分析和表征环境(iPACE) [已停产] 系列集成参数分析和表征环境(iPACE) [已停产] 

    系列集成参数分析和表征环境(iPACE) [已停产]

    The Keysight 41000 Series is a highly accurate CV-IV parametric measurement solution for the characterization of wafers in low-volume R&D, laboratory and process development environments.