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HIGHLIGHTS
- 適用極龐大 S 參數檔案的 64 位元 PLTS 程式碼
- 適用多通道模擬的 PAM4 眼圖 DFE 自動分接最佳化
- 所實施的新標準：JCOM（JEDEC 通道運作邊限）
全新 PLTS 2020 64 位元應用軟體功能
新實體層測試系統（PLTS）2019 是信號完整性量測和高速互連資料後處理（例如纜線、背板、PCB 和連接器）的業界標準。全球許多信號完整性實驗室在研發原型測試階段均受益於 PLTS 的強大性能。PLTS 2020 現已轉移到高效能 64 位元應用軟體，以充分發揮高埠數 S 參數量測功能的優勢。當今的 Internet 基礎設施需要進行多埠通道分析，以避免可能造成誤碼的串擾問題。新的 64 位元 PLTS 應用軟體支援更深的記憶體，讓使用者能夠儲存 16 埠和 32 埠 S 參數量測的大型資料檔案。
PAM4 眼圖 DFE 自動分接最佳化
PLTS 2020 的另一個顯著的特性增強，是在多通道模擬器內新增了分布反饋等化（DFE）自動分接功能。這使得具有簡單操作介面的 PAM4 眼圖，可自動選擇那些能夠最有效打開接收器眼圖的分接。雖然 DFE 濾波器在反饋迴路中加入決策電路，但使用者不一定就能選擇到適當的極點和零點，進而獲得最佳結果。藉由在 PLTS 中自動選擇分接，使用者可快速獲得最佳的眼圖，進而
節省通道設計時間。
自動夾具移除（AFR）演算法增強
自動夾具移除是從通道量測解嵌入測試夾具的業界標準，用來獲取裝置準確的 S 參數，而無須考慮夾具的效能下滑。由於世界上許多實驗室都在使用先天設計不佳、有瑕疵的測試夾具，因而在有些應用軟體中造成問題。這些有問題的測試夾具可能包含一些缺陷，例如差動時脈偏差、反射和接地平面不連續性等，很容易引發串擾和模式轉換。有些測試夾具有很大的阻抗不連續性，很可能嚴重影響解崁入演算法的準確性。但 AFR 已經過進一步最佳化，可對夾具進行準確的傳播延遲量測，無論這些測試夾具有什麼設計問題。總之，更強大的崁入功能可實現更精準的量測。
所實施的新標準：JCOM
高速數位設計人員已普遍使用通道運作邊限（COM）作為品質指標，可協助您考量主動和被動式通道元件之間的設計權衡。事實證明，這個方法既靈活又有效率，雖然在信號完整性實驗室中部署仍有困難。在簡單易用的外殼中執行 COM MATLAB 動態鏈路庫，可大大提高 PLTS 2020 的可用性。因此，隨著它不斷演進，COM 越來越受到工程界和 OIF-CEI、Fibre Channel 和 JEDEC 等標準化委員會的大力支持。COM 標準的最新變體稱為 JCOM（JEDEC COM）。JCOM 支援客製化元件封裝和收發器與 COM 演算法結合使用，進而破除了 COM 的一些限制。JCOM 中的新概念跟元件的變數有關，例如上升與下降時間濾波器、終端和封裝。運算演算法與 IEEE 802.3 COM 中的演算法類似，但前者對發射器/接收器通道與發射器上升與下降時間的每種可能組合，進行了等化最佳化。JCOM 可當作這些組合的最小值進行計算，接著將計算結果與 2 dB 臨界值加以比較，以進行通道相符性檢查。一如既往，是德科技研發工程師持續追踪並採用最新標準，使得 PLTS 得以維持其技術領導地位，讓您能輕鬆將產品設計最佳化，以實現最佳產品效能。
硬體支援
PLTS 2020 也支援業界最佳的高效能 PXI 和 USB 系列向量網路分析儀。其靈活性、擴充性和可重新配置的儀器，可以讓您平順地從研發轉移到製造階段。它們包括了頻率高達 20 GHz 的 VNA 模組之 M980XA 和 P500XA 系列 PNA，能夠以單一測試平台提供多達 50 埠的 VNA 量測。其能夠使用單一儀器以 140 dB 動態範圍的全交叉式校驗，同步分析 12 個不同的互連通道。如此水平的高效能 S 參數分析前所未見。
