Приходилось ли вам сталкиваться с такими проблемами тестирования цифровых устройств?

  • Высокая сложность и длительное время тестирования влияют на время вывода изделия на рынок
  • Увеличение затрат на высокопроизводительное измерительное оборудование, его настройку и услуги экспертов
  • Необходимость повышения точности измерений по мере развития технологий и стандартов
  • Нехватка бюджетных и технических ресурсов

Уникальные возможности и опыт специалистов лаборатории в Санта-Кларе, Калифорния.

  • Осциллографы реального времени с полосой пропускания до 63 ГГц
  • Стробоскопические осциллографы с оптическими каналами с полосой пропускания до 65 ГГц
  • Стробоскопические осциллографы с электрическими каналами с полосой пропускания до 110 ГГц
  • Тестирование приемников, поддерживающих различные протоколы, подстройка и коррекция каналов с производительностью до 16 Гбит/с
  • Генерирование испытательных последовательностей с кодированием NRZ и PAM-4 и символьной скоростью до 64 Гбод
  • Измерение коэффициента битовых ошибок в сигналах с кодированием NRZ и PAM-4 и символьной скоростью до 64 Гбод
  • Генерирование сигналов произвольной формы до 65 Гвыб./с

Выберите нужный вид тестирования

Пример возможностей по тестированию на соответствие требованиям стандартов

  • Display Port
  • Ethernet (1G/10G/100G/400G)
  • Fiber channel (до 32GFC)
  • HDMI
  • MIPI (D-PHY/C-PHY/M-PHY)
  • PCIe
  • SAS
  • SATA
  • Thunderbolt
  • Type-C (без функции Power delivery)
  • UFS
  • USB

Пример возможностей по параметрическому тестированию

  • Параметрический анализ оптических и электрических сигналов с кодированием NRZ и PAM-4
  • Анализ джиттера и разложение джиттера на составляющие
  • Измерения параметров сигналов во временной и частотной областях
  • Раскрыв глазковой диаграммы, тестирование на соответствие маске и по предельным значениям
  • Измерение коэффициента битовых (BER), символьных (SER) и кадровых (FER) ошибок
  • Временные характеристики выходного сигнала (U-образный график)
  • Коэффициент затухания (ER) и амплитуда оптической модуляции (OMA)
  • Закрытие глазковой диаграммы вследствие влияния передатчика и дисперсии (TDEC и TDECQ)

Пример возможностей по тестированию в соответствии с требованиями заказчика

  • Разработка тестов для ранних этапов проектирования
  • Разработка сценариев и автоматизация тестирования
  • Специализированные алгоритмы и методики измерений
  • Нестандартные интерфейсы
  • Специализированные отчеты и анализ данных

Сотрудничество с компанией Keysight поможет вам достичь лучших результатов. Свяжитесь с нами — мы всегда готовы к сотрудничеству.