Choose a country or area to be content specific to your location

    Включите файлы cookie браузера для улучшения возможностей и производительности сайта.
    Keysight Technologies
    Toggle Menu
    Онлайн Чат
    Свяжитесь с нами
    Welcome

    Добро пожаловать

    • Мой профиль
    • Выйти из системы
    • Вход в систему
    • Регистрация
    Запросить коммерческое предложение
    Россия

    Подведите свою страну или регион

    Россия

    • 中国
    • 日本
    • 繁體中文
    • 한국
    • Россия
    • Brasil
    • Canada
    • Deutschland
    • France
    • India
    • Malaysia
    • United Kingdom
    • United States
    • Australia
    • Austria
    • Belgium
    • Denmark
    • Finland
    • Hong Kong, China
    • Ireland
    • Israel
    • Italy
    • Mexico
    • Netherlands
    • Singapore
    • Spain
    • Sweden
    • Switzerland (German)
    • Thailand
    • ещё...

    Подтвердите

    Укажите, пожалуйста, свою страну, чтобы получить доступ к действующим специальным предложениям, мероприятиям и контактным данным.

    • Продукты и услуги
      • Осциллографы и анализаторы
        • Осциллографы
        • Spectrum Analyzers (Signal Analyzers)
        • Анализаторы цепей
        • Логические анализаторы
        • Protocol Analyzers and Exercisers
        • Тестеры коэффициента битовых ошибок
        • Анализаторы коэффициента шума и источники шума
        • High-Speed Digitizers and Multichannel Data Acquisition Solutions
        • Анализаторы мощности переменного тока
        • Анализаторы питания постоянного тока
        • Materials Test Equipment
        • Анализаторы формы сигнала тока
        • Параметрические анализаторы полупроводниковых приборов
      • Измерители
        • Цифровые мультиметры (DMM)
        • Phase Noise Measurement
        • Измерители и преобразователи мощности
        • 53200 Series RF and Universal Frequency Counter / Timers
        • Измерители LCR и приборы для измерения импеданса
        • B2980 Series Femto / Picoammeter and Electrometer Meters
      • Генераторы, источники питания
        • Signal Generators (Signal Sources)
        • Waveform and Function Generators
        • Генераторы сигналов произвольной формы
        • Pulse Generator Products
        • Эмуляторы и системы тестирования электромобилей, гибридных электромобилей и энергосистем
        • Источники питания постоянного тока
        • Source Measure Units
        • DC Electronic Loads
        • AC Power Sources
      • ПО и САПР
        • Application Software Testing
        • САПР PathWave Design
        • Программное обеспечение для тестирования PathWave Test
        • Application Software
        • Вспомогательное ПО
        • Software Enterprise Agreement
        • Все САПР и измерительное ПО  
      • Беспроводная связь
        • Решения для тестирования систем беспроводной связи
        • Решения для эмуляции каналов Propsim
        • Решения Nemo для тестирования сетей беспроводной связи
        • 5G OTA Chambers
        • Wireless Analyzers
        • IoT Regulatory Compliance Solutions
      • Модульные приборы
        • Приборы в формате PXI
        • Приборы в формате AXIe
        • Системы сбора данных
        • Приборы в формате VXI
        • Приборы и решения на базе шины USB
        • Типовые решения на базе модульных приборов
        • All Modular Instruments  
      • Тестирование сетей
        • Protocol and Load Test
        • Оборудование для тестирования сетей
        • Cloud Test
        • Performance Monitoring
        • Тестирование базовых станций стандарта 5G NR
        • Radio Access and Core Network Test
        • Network Modeling
        • All Network Test  
      • Сетевая безопасность и видимость сетей
        • Network Packet Brokers
        • Cloud Visibility
        • Сетевые ответвители
        • Bypass Switches
        • Сетевая безопасность
        • Application and Threat Intelligence
      • Другое измерительное оборудование
        • Автоматизированные тестовые системы 3070 ICT
        • Специализированные измерительные системы
        • Решения для параметрического тестирования
        • Фотонные измерения
        • Лазерные интерферометры и калибраторы
        • Monolithic Laser Combiners & Precision Optics
        • MMIC (монолитные ИС миллиметрового и СВЧ-диапазона)
      • Услуги
        • Услуги и поддержка KeysightCare
        • KeysightAccess Service
        • Calibration Services
        • Repair Services
        • Technology Refresh Services
        • Test as a Service (TaaS)
        • Network/Security Services
        • Consulting Services
        • Financial Services
        • Услуги по обучению
        • Keysight Support Portal
        • Used Equipment
        • All Services  
      • Все продукты, ПО и услуги  
    • Решения
      • 5G
      • Облачные технологии
      • Connected Car
      • Инфраструктура ЦОД
      • Проектирование и автоматизация
      • Emerging Technologies
      • Энергетика
      • Проектирование высокоскоростных цифровых устройств
      • Интернет вещей
      • Тестирование на производстве
      • Основы измерений
      • Сетевая безопасность
      • Тестирование сетей
      • Видимость сетей
      • SDN, NFV, виртуализация
      • Программное обеспечение для автоматизации тестирования
      • Все решения  
    • Отрасли
      • Аэрокосмическая и оборонная промышленность
      • Автомобилестроение и энергетика
      • Телекоммуникации
      • Образование
      • Решения для корпоративных заказчиков
      • Решения для госсектора
      • Полупроводниковая промышленность
      • Поставщики услуг
      • Все отрасли и технологии  
    • Понимание
      • Откройте для себя суть
      • Истории успеха
      • Блог
      • Keysight University
    • Ресурсы
    • Поддержка
      • Поддержка продуктов Keysight
      • Поддержка продуктов Ixia
    No product matches found - System Exception
    Solutions for Measuring Permittivity and Permeability with LCR Meters and Impedance Analyzers
    Application Notes

    Solutions for Measuring Permittivity and Permeability with LCR Meters and Impedance Analyzers

    Show Description

    Introduction 

    Recently, electronic equipment technology has dramatically evolved to the point where an electronic component’s material characteristics become a key factor in a circuit’s behavior. For example, in the manufacture of high capacitance multilayer ceramic capacitors (ML-CCs), which are being used more in digital (media) appliances, employing high κ (dielectric constant) material is required. In addition, various electrical performance evaluations, such as frequency and temperature response, must be performed before the materials are selected.

    In fields outside of electronic equipment, evaluating the electrical characteristics of materials has become increasingly popular. This is because the composition and chemical variations of materials such as solids and liquids can adopt electrical characteristic responses as substituting performance parameters.

    A material evaluation measurement system is comprised of three main pieces. These elements include precise measurement instruments, test fixtures that hold the material under test, and software that can calculate and display basic material parameters, such as permittivity and permeability. Various measurement methods for permittivity and permeability currently exist (see Table 1). However, this note’s primary focus will be on methods that employ impedance measurement technology, which have the following advantages: 

    • Wide frequency range from 20 Hz to 1 GHz
    • High measurement accuracy
    • Simple preparations (fabrication of material, measurement setup) for measurement 

    This note begins by describing measurement methods, systems, and solutions for permittivity in Section 2, followed by permeability in Section 3. The resistivity measurement system and the permittivity measurement system for liquids are described later in the appendix.

    Table of Contents:

    • Permittivity Evaluation
      • Definition of permittivity
      • Parallel plate measurement method of measuring permitivity
      • Permittivity measurement system
      • Measurement system using the 16451B dielectric test fixture
      • Measurement system using the 16453A dielectric material test fixture
    • Permeability Evaluation
      • Definition of permeability
      • Inductance measurement method
      • Permeability measurement system
      • Measurement system using 16454A magnetic material test fixture
    • Conclusion

    Permittivity Evaluation

    Definition of permittivity 

    Permittivity describes the interaction of a material with an electric field. The principal equations are shown in Figure 1. Dielectric constant (κ) is equivalent to the complex relative permittivity (εr*) or the complex permittivity (ε*) relative to the permittivity of free space (ε0). The real part of the complex relative permittivity (εr´) is a measure of how much energy from an external field is stored in a material; εr´ > 1 for most solids and liquids.

    The imaginary part of the complex relative permittivity (εr´´) is called the loss factor and is a measure of how dissipative or lossy a material is to an external field. εr´´ is always> 0 and is usually much smaller than εr´. The loss factor includes the effects of both dielectric loss and conductivity.

    When complex permittivity is drawn as a simple vector diagram as shown in Figure 1, the real and imaginary components are 90° out of phase. The vector sum forms an angle δ with the real axis (εr´). The tangent of this angle, tan δ or loss tangent, is usually used to express the relative “lossiness” of a material. The term “dielectric constant” is often called “permittivity” in technical literature. In this application note, the term permittivity will be used to refer to dielectric constant and complex relative permittivity.

    Change email?
    Required field

    Required field

    Required field

    Required field

    Required field

    Required field

    Required field

    Required field

    Required field

    Required field

    Required field

    Required field

    Required field

    Required field

    Required field

    By clicking the button, you are providing Keysight with your personal data. For information on how we use this data, see the Keysight Privacy Statement.

    Thank you!
    Download

    Библиотека

    • Продукты и услуги
    • Решения
    • Отрасли
    • Мероприятия
    • Keysight University

    Insights

    • Discover Insights
    • Истории успеха
    • Ресурсы
    • Блог
    • Сообщество

    Партнеры

    Поддержка

    • Поддержка продуктов Keysight
    • Поддержка продуктов Ixia
    • Управление лицензиями на ПО
    • Статус заказа продукта
    • Комплектующие

    О компании Keysight

    • Новости
    • Отношения с инвесторами
    • Корпоративная социальная ответственность
    • Многообразие, равенство и инклюзивность
    • Прозрачность каналов поставки
    • Вакансии

    • Facebook: Присоединяйтесь к Keysight LinkedIn: Присоединяйтесь к Keysight Twitter: Присоединяйтесь к Keysight YouTube: Присоединяйтесь к Keysight WeChat:  Присоединяйтесь к Keysight
    • © Keysight Technologies 2000–2022
    • Заявление о конфиденциальности
    • Правила использования сайта
    • Обратная связь