Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Рекомендуемая конфигурация  

Рекомендуемая конфигурация

E4727A Advanced Low-Frequency Noise Analyzer

Конфигурировать

Prices for: Россия

* Цены могут быть изменены без уведомления. Указанные цены являются рекомендованными ценами производителя на условиях CIP, не включают налоговых и таможенных сборов.

Совместимые программные продукты

  • no image available WaferPro Express 

    WaferPro Express

    • Performs automated wafer-level measurements of semiconductor devices
    • Provides turnkey drivers and test routines
    • Key software component of Wafer-level Measurement Solution, a joint partnership program with Cascade Microtech
       

  • САПР IC-CAP для моделирования полупроводниковых устройств 

    САПР IC-CAP для моделирования полупроводниковых устройств

    Отраслевой стандарт для моделирования полупроводниковых приборов в ВЧ диапазоне и на постоянном токе.

  • Программа для моделирования устройств Model Builder 

    Программа для моделирования устройств Model Builder

    Программа Model Builder представляет собой комплексное решение, обеспечивающее автоматизацию и гибкость моделирования полупроводниковых устройств на основе кремния.

  • Программа проверки качества модели MQA 

    Программа проверки качества модели MQA

    Программа проверки качества модели MQA дает возможность разработчикам и производителям интегральных схем проводить проверку достоверности, сравнение и документирование моделей SPICE.

Сопутствующие продукты и решения

  • Agilent B1500A Semiconductor Device Analyzer B1500A Анализатор полупроводниковых приборов/ПО EasyEXPERT 

    B1500A Анализатор полупроводниковых приборов/ПО EasyEXPERT

    • Конфигурируемая модульная архитектура с 10 слотами для измерительных модулей
    • ПО EasyEXPERT на базе Windows 7
    • Сотни готовых к использованию измерительных библиотек
    • Сенсорный экран с диагональю 38,1 см для управления и анализа параметров устройства

  • E5260A 8-Slot High Speed Measurement Mainframe E5260A Базовый блок для высокоскоростных измерений, 8 гнезд 

    E5260A Базовый блок для высокоскоростных измерений, 8 гнезд

    Решение для высокоскоростного параметрического тестирования полупроводниковых приборов, высокочастотных интегральных микросхем и оптических компонентов.

  • E5270B 8-Slot Precision Measurement Mainframe E5270B Базовый блок для прецизионных измерений, 8 гнезд 

    E5270B Базовый блок для прецизионных измерений, 8 гнезд

    Гибкое масштабируемое решение для определения параметров полупроводниковых устройств.

  • 4142B Modular DC Source/Monitor 4142B Modular DC Source/Monitor [Устарело] 

    4142B Modular DC Source/Monitor [Устарело]

    The 4142B was discontinued on July 1, 2003, and became obsolete on September 1, 2008.

  • no image available 4155B / 4156B Semiconductor Parameter Analyzers [Устарело] 

    4155B / 4156B Semiconductor Parameter Analyzers [Устарело]

    The 4155B and 4156B were discontinued on December 1, 2000 and became obsolete on February 1, 2006.

  • 4155C 4155C Semiconductor Parameter Analyzer [Устарело] 

    4155C Semiconductor Parameter Analyzer [Устарело]

    Keysight 4155C offers all inclusive instrument solutions and easy operation for various parametric tests. It is a cost-effective, accurate laboratory bench top solution for advanced device characterization.

  • no image available B1510A/B1511B/B1517A (B1500A-A10/A11/A17) Модули источников/измерителей (SMU) 

    B1510A/B1511B/B1517A (B1500A-A10/A11/A17) Модули источников/измерителей (SMU)

    • 4-квадрантный источник и измерение тока/напряжения от фемтоампер
    • Диапазон измерений: 0,1 фА-1 А/0,5 мкВ-200 В
    • Возможности измерений: точечное, свипирование, импульсные, с выборкой по времени
    • Измерение квазистатических ВФХ с компенсацией тока утечки