Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Конфигурировать

Prices for: Россия

* Цены могут быть изменены без уведомления. Указанные цены являются рекомендованными ценами производителя на условиях CIP, не включают налоговых и таможенных сборов.

Ключевые возможности и технические характеристики

Основные характеристики

  • 4 порта для тестирования (Test Access Port, TAP)
  • Частота сигнала синхронизации (Test Clock, TCK) 22,5 МГц
  • 9 портов ввода-вывода общего назначения (General-Purpose I/O, GPIO) на каждый порт TAP
  • Технология расширенного тестового покрытия (Cover-Extend Technology, CET) — быстрое расширение области тестирования на компоненты, лежащие за пределами цепей граничного сканирования

Основные функциональные возможности

  • Лучший в своем классе пользовательский интерфейс
  • Возможность контроля напряжения
  • Формирование отчетов о неисправностях на уровне контактов
  • Функция внутрисхемного программирования

Программные приложения

Описание

Анализатор граничного сканирования x1149 представляет собой универсальный инструмент для инженеров, позволяющий выполнять структурное тестирование печатных плат с установленными компонентами (PCBA), в частности, выявлять наличие разрывов и коротких замыканий. С помощью анализатора x1149 можно осуществлять также внутрисхемное программирование различных устройств, таких как сложные программируемые логические интегральные схемы (FPGA и CPLD).

Кроме того, анализатор x1149 позволяет программировать программируемые постоянные запоминающие устройства (ППЗУ, PROM), а также выполнять тестирование устройств памяти, в том числе, синхронной динамической памяти с произвольным доступом и удвоенной скоростью передачи данных (DDR SDRAM).

Анализатор x1149 полностью совместим со стандартом граничного (или периферийного) сканирования IEEE 1149.1, за счет чего он способен обеспечить тестирование большинства печатных плат с устройствами граничного сканирования. Кроме того, инновационная технология расширенного тестового покрытия Cover-Extend Technology (CET) позволяет расширить область тестирования на разъемы, соединители и другие компоненты, не поддерживающие стандарт IEEE1149.1. Анализатор Keysight x1149 поддерживает также стандарт IEEE 1149.6 для дифференциальных цепей со связью по переменному току.

Благодаря встроенному компоновщику цепей сканирования анализатор x1149 обеспечивает возможность объединения несколько цепей в одну.

В настоящее время анализатор граничного сканирования Keysight x1149 поддерживает технологию проверки и отладки процессоров Intel® Silicon View (Intel® SVT).