Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Другое измерительное оборудование

  • Решения для тестирования систем беспроводной связи Решения для тестирования систем беспроводной связи 

    Решения для тестирования систем беспроводной связи

    • Автоматизация тестирования систем сотовой связи, устройств WiMAX и WLAN
    • Аппаратные и программные решения для разработчиков и производителей систем беспроводной связи
    • Сочетание гибкости конфигурации с высокой скоростью и точностью измерений

  • Решения Nemo для тестирования сетей беспроводной связи Решения Nemo для тестирования сетей беспроводной связи 

    Решения Nemo для тестирования сетей беспроводной связи

    • Решения Nemo для ВЧ-измерений на всех стадиях жизненного цикла сетей беспроводной связи
    • Развертывание, оптимизация и сравнительный анализ сетей
    • Контроль и управление сетями
    • Пост-обработка данных и анализ показателей функционирования сетей

  • Решения для эмуляции каналов Propsim Решения для эмуляции каналов Propsim 

    Решения для эмуляции каналов Propsim

    • Моделирование характеристик реальных радиоканалов в лаборатории
    • Самое реалистичное моделирование условий распространения сигналов
    • Моделирование характеристик радиоканалов, включая потери при распространении, замирания, доплеровский разброс и др.

  • Автоматизированные тестовые системы 3070 ICT Автоматизированные тестовые системы 3070 ICT 

    Автоматизированные тестовые системы 3070 ICT

    Keysight’s Medalist Test and Inspection family includes breakthrough technologiesi3070 In-Circuit test (ICT), plus system software and services.

  • Специализированные измерительные системы Специализированные измерительные системы 

    Специализированные измерительные системы

  • Customized Product Solutions Customized Product Solutions 

    Customized Product Solutions

    We rapidly design innovative customized solutions for most test & measurement products.

  • Решения для параметрического тестирования Решения для параметрического тестирования 

    Решения для параметрического тестирования

    Универсальное функционально законченное решение, которое позволяет расширить рамки параметрического тестирования на уровне пластины и испытаний тонкопленочных транзисторов (TFT).

  • Принадлежности для тестирования ВЧ и СВЧ устройств Принадлежности для тестирования ВЧ и СВЧ устройств 

    Принадлежности для тестирования ВЧ и СВЧ устройств

    • Переключатели, смесители, аттенюаторы, усилители, адаптеры и другие устройства
    • Гарантированные точные и воспроизводимые результаты
    • Непревзойденное качество и надежность для минимизации погрешностей измерений 

  • Фотонные измерения Фотонные измерения 

    Фотонные измерения

    Решения для тестирования активных и пассивных оптических устройств, измерения модуляции, измерения временных ошибок, принадлежности и др.

  • Атомные силовые микроскопы, FE-SEM, наноиндентеры Атомные силовые микроскопы, FE-SEM, наноиндентеры 

    Атомные силовые микроскопы, FE-SEM, наноиндентеры

  • Лазерные интерферометры и калибраторы Лазерные интерферометры и калибраторы 

    Лазерные интерферометры и калибраторы

  • Монолитные лазерные сумматоры и прецизионные оптические компоненты Монолитные лазерные сумматоры и прецизионные оптические компоненты 

    Монолитные лазерные сумматоры и прецизионные оптические компоненты

  • MMIC (монолитные ИС миллиметрового и СВЧ-диапазона) MMIC (монолитные ИС миллиметрового и СВЧ-диапазона) 

    MMIC (монолитные ИС миллиметрового и СВЧ-диапазона)

  • Аксессуары Аксессуары 

    Аксессуары

  • Решения Ixia Решения Ixia 

    Решения Ixia