Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Решения для моделирования и определения характеристик устройств

Наши продукты и передовые решения обеспечивают моделирование и определение характеристик КМОП устройств и приборов на основе полупроводниковых соединений. Компания Keysight является единственным производителем, который предоставляет законченные решения для моделирования — от автоматических измерений, точной экстракции параметров моделей устройств и комплексной оценки качества модели до окончательной аттестации библиотек технологических процессов (PDK). Универсальные средства моделирования поддерживаются высококвалифицированными специалистами Keysight и самыми передовыми исследовательскими лабораториями. Решения для моделирования и определения характеристик устройств включают как программные (САПР), так и аппаратные средства.

Основные преимущества решений для моделирования устройств

  • Программное обеспечение для определения характеристик и анализа полупроводниковых приборов (Integrated Circuit Characterization and Analysis Program, IC-CAP) является отраслевым стандартом САПР для моделирования полупроводниковых устройств
  • Программа Model Builder (MBP) представляет собой универсальное решение для моделирования полупроводниковых устройств на основе кремния
  • Программа обеспечения качества моделей (Model Quality Assurance, MQA) является отраслевым стандартом для аттестации, сравнения и документирования моделей SPICE
  • Программа WaferPro Express для автоматизаций измерений на пластине и программирования процедур испытаний; может использоваться с различными измерительными приборами, пробниками и зондовыми станциями
  • Усовершенствованный анализатор низкочастотного шума (Advanced Low-Frequency Noise Analyzer, A-LFNA) позволяет выполнять измерения на пластине, а также анализ фликкерного шума и произвольного телеграфного шума (RTN)

Более подробная информация о моделировании и определении характеристик устройств

  • САПР IC-CAP для моделирования полупроводниковых устройств САПР IC-CAP для моделирования полупроводниковых устройств 

    САПР IC-CAP для моделирования полупроводниковых устройств

    Отраслевой стандарт для моделирования полупроводниковых приборов в ВЧ диапазоне и на постоянном токе.

  • Программа для моделирования устройств Model Builder Программа для моделирования устройств Model Builder 

    Программа для моделирования устройств Model Builder

    Программа Model Builder представляет собой комплексное решение, обеспечивающее автоматизацию и гибкость моделирования полупроводниковых устройств на основе кремния.

  • Программа проверки качества модели MQA Программа проверки качества модели MQA 

    Программа проверки качества модели MQA

    Программа проверки качества модели MQA дает возможность разработчикам и производителям интегральных схем проводить проверку достоверности, сравнение и документирование моделей SPICE.

  • Программа WaferPro Express Программа WaferPro Express 

    Программа WaferPro Express

    • Выполнение автоматических измерений параметров полупроводниковых устройств на уровне пластин
    • Включает полностью готовые драйверы и программы испытаний
    • Является ключевым программным компонентом решения для измерений на уровне пластин

  • E4727A Усовершенствованный анализатор низкочастотного шума E4727A Усовершенствованный анализатор низкочастотного шума 

    E4727A Усовершенствованный анализатор низкочастотного шума

    • Автоматические 1/f, RTN и DC-измерения с помощью WaferPro Express
    • Встроенные алгоритмы измерения для BJT, FET, диодов, резисторов, микросхем
    • Чувствительность к шуму от –183 дБВ2/Гц, измерение напряжения шума до ±200 В с частотой до 0,03 Гц