Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Discontinued Oscilloscope Single-Ended Active Probes

This page provides supported information for discontinued oscilloscope single-ended active probes. Learn more about Oscilloscope Single-Ended Active Probes
 

  • 1144A Активный пробник, 800 МГц [Устарело] 1144A Активный пробник, 800 МГц [Устарело] 

    1144A Активный пробник, 800 МГц [Устарело]

    Активный пробник Keysight 1144A имеет широкую полосу пропускания, высокое входное сопротивление и низкую входную емкость.

  • 1145A Двухканальный активный пробник, 750 МГц [Устарело] 1145A Двухканальный активный пробник, 750 МГц [Устарело] 

    1145A Двухканальный активный пробник, 750 МГц [Устарело]

    Двухканальный активный пробник Keysight 1145A для проведения измерений параметров устройств поверхностного монтажа обеспечивает легкое надежное подключение к компонентам печатных плат.

  • 1155A Легкий двухканальный активный пробник, 750 МГц [Устарело] 1155A Легкий двухканальный активный пробник, 750 МГц [Устарело] 

    1155A Легкий двухканальный активный пробник, 750 МГц [Устарело]

    Легкий двухканальный активный пробник Keysight 1155A для осциллографов Keysight серии Infiniium.

  • 1156A Активный пробник, 1,5 ГГц [Устарело] 1156A Активный пробник, 1,5 ГГц [Устарело] 

    1156A Активный пробник, 1,5 ГГц [Устарело]

    Активный пробник Keysight 1156A обеспечивает высокую производительность при проведении измерений в труднодоступных местах тестируемого устройства.

  • 1157A Активный пробник, 2,5 ГГц [Устарело] 1157A Активный пробник, 2,5 ГГц [Устарело] 

    1157A Активный пробник, 2,5 ГГц [Устарело]

    Активный пробник Keysight 1157A обеспечивает высокую производительность при проведении измерений в труднодоступных местах тестируемого устройства.

  • 1158A Активный пробник, 4 ГГц [Устарело] 1158A Активный пробник, 4 ГГц [Устарело] 

    1158A Активный пробник, 4 ГГц [Устарело]

    Активный пробник Keysight 1158A обеспечивает высокую производительность при проведении измерений в труднодоступных местах тестируемого устройства.