Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Приборы в формате PXI

Производительность, инновации и опыт в области измерений в форм-факторе PXI

Мы постоянно совершенствуем свои модульные приборы стандарта PXI, чтобы помочь нашим заказчикам снизить затраты на испытания и сократить время вывода новых продуктов на рынок. Благодаря постоянно растущему ассортименту модульных приборов стандартов PXI и PXIe, их высокому качеству и производительности, а также богатому опыту в области измерений компания Keysight предоставляет своим заказчикам качественно новые возможности по тестированию продукции. С целью упрощения создания испытательных систем на любой выбранной пользователем программной платформе компания Keysight поставляет модули в формате PXI с полным комплектом приборных драйверов, документации и примеров для программных сред Microsoft® C/C++, C#, Visual Basic, MATLAB, VEE, LabVIEW и LabWindows/CVI.

Уточнить список

убрать все фильтры

По Отрасли/Технологии

По типу содержания

По типу оборудования

1-4 из 4

Упорядочить:
Emulating Analog Input Sensors in Automotive Electronics Functional Test - Article Reprint
This article discusses guidelines for evaluating the digital-analog converters for your automotive electronics functional test needs.

Статья 2016-02-09

PDF PDF 318 KB
PXIe Measurement Accelerator Speeds RF Power Amplifier Test - Article Reprint
This article, reprinted with permission from Microwave Journal, describes the speed improvement provided by Keysight's M9451A PXIe Measurement Accelerator.

Статья 2015-11-11

PDF PDF 1.63 MB
2014 Global PXI Instrumentation Growth Excellence Leadership Award - Article Reprint
Frost & Sullivan honors Agilent as a growth leader in the PXI modular instrumentation market in 2014.

Статья 2014-05-22

PDF PDF 598 KB
Improving Coverage for ECU Outliers - Article Reprint
This article explores how to catch electronic faults that typically escape with traditional serial testing, by using a multiple-channel voltage acquisition method that can enable faster parallel test.

Статья 2012-08-24

PDF PDF 266 KB