Unidades de alimentação e medição

• Complete solution for all aspect of characterization from IV/CV to pulsed/transient IV measurement for various devices
• GUI based EasyEXPERT group+ software on embedded Windows 10 for efficient characterization
• Configurable and scalable up to 10 slots

The Keysight N6781A is a source/measure unit (SMU) designed specifically for battery drain analysis.

As unidades de alimentação e medição de precisão são soluções com ótimo custo-benefício que têm desempenho superior e a melhor interface gráfica de usuário da categoria. Seu amplo alcance e precisão possibilitam testes e depurações rápidos.

A flexible family of products, with solutions for both precise parametric measurement of semiconductor devices and high speed testing of components (E5260A, E5262A, E5263A and E5270B).

A unidade de alimentação e medição (SMU) Keysight N6782A foi projetada especificamente para testes funcionais avançados.

A unidade de alimentação e medição (SMU) Keysight N6784A foi projetada para uso geral de alimentação e medição de precisão.

The Keysight N6785A is a source/measure unit (SMU) designed specifically for battery drain analysis of large mobile, battery-powered devices up to 20 V, up to 8 A, up to 80 W.

The Keysight N6786A is a source/measure unit (SMU) designed specifically for functional test of the internal components of large mobile, battery-powered devices up to 20 V, up to 8 A, up to 80 W.

• The N6705C DC Power Analyzer provides unrivaled productivity gains for sourcing and measuring DC voltage and current into the DUT.

• The N6715C is a build-to-order system that is shipped as a fully tested and assembled DC Power Analyzer. Each N6715C consists of one N6705C mainframe plus 1 to 4 modules.
• Modules are ordered as options to the N6715C.

Uma solução em único instrumento para avaliação de dispositivos de potência de sub-pA a 10 kV e 1500 A. Medições precisas com pulsos de 10 µs e medições de resistência µΩ.

Solução para testes paramétricos de alta velocidade de semicondutores, RFIC e componentes ópticos.

Solução para testes paramétricos de alta velocidade de semicondutores, RFIC e componentes ópticos.

Solução para testes paramétricos de alta velocidade de semicondutores, RFIC e componentes ópticos.

Uma solução flexível, expansível e atualizável para caracterização de semicondutores.

• Integrated symmetry 4-quadrant sourcing and measuring capabilities
• Broad coverage of currents from 10 fA to 315 mA and voltages from 500 nV to 210 V
• Low current measurement noise: 30 fArms@1PLC
• Narrow pulse capability: 20 μs at minimum

• Narrow pulse (10 μs) and high sampling rate (15 MSa/s) enabling emerging dynamic/pulsed measurements
• Broad coverage from low current to high current via a single module
• Fast throughput with PXIe advantages and lower measurement noise

• Narrow pulse (10 μs) and high sampling rate (15 MSa/s) enabling emerging dynamic/pulsed measurements
• Broad coverage from low current to high current via a single module
• Fast throughput with PXIe advantages and lower measurement noise

• High channel scalability and density at lower cost on the same footprint
• Broad application coverage by a single module
• Fast throughput with PXIe advantages and seamless current measurement ranging

• High channel scalability and density at lower cost in the same footprint
• Broad application coverage by a single module
• Fast throughput with PXIe advantages and seamless current measurement ranging

A SMU U2722A pode operar com 4 quadrantes. Os canais podem ser conectados em série ou em paralelo, para maior potência. O acessório de teste paramétrico opcional U2941A complementa a unidade U2722A no teste de componentes semicondutores.

A unidade modular de alimentação e medição com USB U2723A tem 3 canais de 20 V/120 mA com operação em 4 quadrantes. Ela tem scripts de teste embarcados que simplificam testes automatizados com até dois scripts de teste por canal.