Soluções de Teste de Taxa de Erro de Bit (BERT)
BERTs de alta performance para uma caracterização eficiente e precisa até 13,5 Gb/s
As soluções de teste de taxa de erro de bit da Keysight proporcionam a maior precisão e eficiência na verificação e caracterização de projetos e o teste de fabricação de portas de comunicação de alta velocidade dos atuais chips (produtos semicondutores), componentes, módulos e cartões de linha da indústria de semicondutores, computação e comunicação.
A Keysight oferece o maior portfólio de produtos, com duas famílias de BERT destinadas a uma variedade de classes de velocidade, conceitos de usabilidade e flexibilidade, além de ferramentas de estímulo e análise para aplicações específicas. As duas famílias proporcionam uma visão em profundidade, eficiente e econômica, das tarefas críticas de medição dos dispositivos com interfaces gigabit atuais e de próxima geração, como PCI Express, SATA, Fibre Channel, FB-DIMM, XAUI/10Gb Ethernet, CEI, XFI/XFP, SONET/SDH e PON-OLTs.
| Clean Eye | Eye Contour |
|---|---|
| N4903A Clean Eye Screenshot |
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| Spectral Jitter | BERT Scan |
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Combinados com o Keysight 86100 Infiniium DCA-J, esses BERTs são as soluções mais abrangentes e precisas de tolerância a jitter e análise disponíveis. Infiniium DCA-J
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M8000 Series
M8000 Series
- Highly integrated BERT
- Scalable and expandable
- Accurate and reliable results
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Serial BERTs
Serial BERTs
- Parametric test capabilities
- Widest range of products in the industry
- Operating at up to 40 Gb/s
- Excellent signal integrity
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Accessories and supplementary products for BERTs and Pulse Pattern Generators
Accessories and supplementary products for BERTs and Pulse Pattern Generators
- Extensive range of accessories and supplementary products
- For use with ParBERT, Serial BERTs and Pulse Pattern Generators
- Attenuators, cable kits, multiplexers and ISI channels amongst others
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Applications for BERTs and Pulse Pattern Generators
Applications for BERTs and Pulse Pattern Generators
- High-speed digital computing and backplane test
- Optical transceiver test solutions
- Solutions for R&D and manufacturing
- Test Automation software for compliance and characterization
- PCIe, USB, DisplayPort, MIPI etc
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Electrical and Optical Clock Data Recovery Solutions
Electrical and Optical Clock Data Recovery Solutions
- Data rate range from 50 Mb/s to 32 Gb/s
- Wide bandwidth instrumentation-grade
- Clock data recovery and demultiplexer 1:2
- Optical pick-off for single mode and multimode
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M8091BSPA IEEE 802.3bs Receiver Test Pre-Compliance Application
M8091BSPA IEEE 802.3bs Receiver Test Pre-Compliance Application
- M8091BSPA IEEE 802.3bs receiver test
- 200GAUI-4 & 400GAUI-8 chip to module
- Automated stress signal calibration and pre-compliance measurement
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N4917B Optical Receiver Stress Test
N4917B Optical Receiver Stress Test
- 100GBASE-LR4, ER4 and SR4 test solution
- Standard conformant optical stressed eye calibration
- Automated turn-key solution
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N4917BSCA Optical Receiver Stress Test
N4917BSCA Optical Receiver Stress Test
- Optical receiver stress test solution
- Adjustable stress mix for user-defined calibration
- One vendor turn-key solution automates all required instruments in the solution
Bit Error Ratio Test (BERT) Solutions [Descontinuado]
Product information and resources for discontinued bit error ratio testers and accessories.
