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イノテック株式会社

Partner

港北区新横浜
3-17-6
横浜市, 神奈川県 222-8580
日本
045-474-8824 ext: 電話
045-474-9064 FAX
Eメール: Itc-star@innotech.co.jp | ウェブサイト 

ソリューション・パートナー

パラメトリック測定および信頼性試験にむけた、各種プローブカード(低リーク、狭ピッチ、高耐圧、高耐熱)から測定・検査システムまでトータルなソリューションを提供しています。 システムのベースになる統合化ソフトはオープンシステムなので、メーカーを問わず汎用の計測器、スイッチ、プロービングステーションなどをフレキシブルに接続することができます。 ディスクリートパワー、LSI、ミックスドシグナル、3Dなど幅広いデバイスに対応するシステムを提供しています。 その他

アプリケーション&ソリューション

提供業務

  • ハードウェア
  • ソフトウェア

紹介

イノテック株式会社のテストソリューション事業では自社開発製品であるウェハテスター/エンジニアリングテスター「RETSET」シリーズをラインナップし、主にNAND型フラッシュメモリーの量産ラインにおけるテストソリューションを展開しています。
2014年には台湾に本社のあるSTAr Technologies, Inc.(以下STAr社)を連結子会社化し、アナログ・パワー半導体のテストソリューション及び信頼性評価を行う為の各種ソリューションもワンストップで提供しています。
STAr社は半導体デバイスの信頼性試験システムと、デバイスの電気特性試験(パラメトリックテスト)で用いられる、微小電流測定用、低リーク(100fA/V)、低高温(-65〜400度)向けプローブカードを中心にビジネスを展開しています。
また、RFデバイス、CMOSイメージセンサー、半田バンプやSiC、GaNに代表される高耐圧デバイス評価など、各種デバイスに対するソリューションを提供しています。
STAr社はシンガポール、韓国、中国、米国などグローバルに販売・サポート拠点を有しており、国内のお客様の海外拠点や、海外のお客様にも安心してご利用頂ける体制を構築しています。
全世界でトップティアにあるお客さまにプロービングから測定・検査システムまで一貫したソリューションをご提供し、開発拠点においては先進的な技術・製品開発を、生産拠点においては生産性の改善・コスト改善を支援しています。

主要製品

>プローブカード

低リーク、狭ピッチ、高周波、高耐圧、高耐熱対応
カンチレバータイプ、バーチカルタイプ
- Virgo シリーズ パラメトリックテストカード
- Aries シリーズ ファンクションテストカード

>パラメトリックテスト統合システム (Sagittarius シリーズ)

メーカーを問わず多くの計測器、スイッチ、プロービングステーションをGPIBで接続可能
特性計測に必要なアルゴリズムを標準的にビルトイン
GUIで対話的に計測することも、シーケンスを自動実行することもいずれも可能
ライブラリー化された検査・測定アルゴリズム
C/Basicによるアルゴリズムのカスタマイズも可能
- IVR/CV
- MOS
- WLR (HCI, NBTI, TDDB, EM)
- SPICE

>信頼性検査システム (Scorpio シリーズ)

ウェハレベル、パッケージレベルいずれも対応可能
最大4オーブンを内蔵でき、高精度の電流・電圧ストレッサーをフレキシブルに構築可能
マルチDUTに対応
パッケージ化された信頼性検査アルゴリズム
- GOI/TDDB
- HCI/BTI
- EM など

>ミクストシグナル検査システム (KVD シリーズ)

高精度、多チャンネル検査が可能