Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Техническая поддержка

Электронные измерения

Поддержка по номеру модели:

Уточнить список

По Отрасли/Технологии

По типу содержания

По типу оборудования

1-25 из 1128

Упорядочить:
Network Analysis
This paper covers transmission line theory, S-parameters, the Smith Chart and impedance measurements/matching. Transmit/receive and directivity paths are described along with how dynamic range and accuracy can be optimized. Calibration and error correction is also covered.

Материалы семинаров 2019-11-01

PDF PDF 5.53 MB
Accuracy Matters
What do you do with the result after you take a measurement? Often, people compare the result to a specification and make a “Pass” or “Fail” decision to ship or reject the item under test. They don’t teach you in school how accuracy affects the risk of incorrect Pass/Fail decisions. We will.

Материалы семинаров 2019-11-01

PDF PDF 1.53 MB
Практический семинар: "Тестирование параметров материалов и полупроводниковых устройств"
Практический семинар: "Тестирование параметров материалов и полупроводниковых устройств" 2 паралельных сессии дают возможность составить свое индивидуальное расписание.

Семинар

HF/Mikro­wellen­-Messungen
Hotspots HF/Mikro­wellen­-Messungen - Deutsch

Семинар

Keysight EEsof EDA Training Course Calendar (Europe)
Scheduled Keysight EEsof Courses for EMEAI

Обучение в классах

RF and Microwave Measurement Insights
Hotspots RF and Microwave Measurement Insights - English

Семинар

Material- und Bauteilcharakterisierungen von DC bis THz
Hotspots Material- und Bauteilcharakterisierungen von DC bis THz - Deutsch

Семинар

High Speed Digital Measurement Insights
Event ID: 2955215 (English Main Event Page)

Семинар

Сквозные технологии в микроэлектронике: от идеи до воплощения в серийном производстве
Совместный семинар Keysight Technologies и GS Nanotech "Сквозные технологии в микроэлектронике: от идеи до воплощения в серийном производстве"

Семинар

Fondamenti di Misure su Materiali & Dispositivi
Hotspots Fondamenti di Misure su Materiali & Dispositivi - Italiano

Семинар

High Speed Digital Measurement Insights
Event ID: 2955231

Семинар

Materials and Devices Measurement Insights
Hotspots Materials and Devices Measurement Insights - English

Семинар

High Speed Digital Measurement Insights
Event ID: 2955251 (Italian Main Event Page)

Семинар

Les mesures de matériaux et de composants
Hotspots Les mesures de matériaux et de composants - Français

Семинар

High Speed Digital Measurement Insights
Event ID: 2955243 (French Main Event Page)

Семинар

Sensor Measurement Techniques with your DMM
Test & measurement bench essentials webinar series

Учебные материалы 2019-10-07

Теория и практика разработки и испытаний современных электронных устройств
Теория и практика разработки, тестирования и испытаний современных электронных устройств - ежегодная конференция Keysight

Семинар

Список предстоящих мероприятий Keysight в России
Список предстоящих мероприятий Keysight в России

Семинар

Power Integrity Boot Camp for Designers Seminar
Power Integrity hands-on simulation and measurement demonstrations. Keysight and Picotest experts bring to life the popular How to Design for Power Integrity 5-part YouTube series with Steve Sandler.

Материалы семинаров 2019-10-04

EMPro Evaluation Resources
For users that want to evaluate EMPro, here are some resources to help you quickly learn how to use the product.

Учебные материалы 2019-09-28

Addressing FEC challenges on your 400G device Webinar
Addressing FEC challenges on your 400G device Webinar

Материалы семинаров 2019-09-19

ECOC 2019 - The European Conference on Optical Communications
ECOC 2019 - The European Conference on Optical Communications

Материалы семинаров 2019-09-19

SPECS User Training
Learn to quickly develop and run SPECS test plans to obtain semiconductor parametric information.

Обучение в классах

Семинар по обзору решений Keysight для создания компактных моделей полупроводниковых устройств.
Семинар по обзору решений Keysight для создания компактных моделей полупроводниковых устройств. Москва, 2 октября 2019

Семинар

Boundary Scan Webcast Series
Live and on-demand webcasts 2014

Интернет-трансляция

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 ... Следующие