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If we use external clocks for both the Pattern Generator and Error Detector parts, can we run them at different data rates?
It would be more straight-forward to provide the PG (TX) with a 10 GHz clock (for 10 Gb/s data) and then use the 1:4 demux and provide the ED (RX) with a 2.5 GHz clock (measuring 2.5 Gb/s data). Click on the question for additional information.

FAQ 2017-06-28

What is the raw jitter tolerance for the N4960A/N4952A?
There is no CDR in the N4960A, so by itself, the JTOL plot will be a flat line somewhere below 1 UI. An external CDR can be used. Click on the question for additional information.

FAQ 2017-06-28

[アプリケーション]USBコンプライアンステストに関する資料を探していますが、どのような資料を用意していますか?

FAQ 2014-03-03

[仕様/機能] セグメント・メモリ捕捉モードはなぜ有用ですか?どのInfiniiumがこのモードを備えていますか?
セグメント・メモリ・モードは、長期間で分割されたイベントによって波形を捕捉するための、効率的な捕捉メモリの活用方法を提供します。現行のすべてのInfiniiumおよび多くの旧型のInfiniiumがセグメント・メモリをサポートしています。

FAQ 2013-09-18

[アプリケーション] USB2.0:HS Electrical Test Tool (USBHSET)は、どこから入手できますか?
被測定対象物をテストモードに入れるには、USB2.0(EHCI)を備えたコンピューターが必要になります。

FAQ 2013-09-03

N490xA/BシリアルBERTを使用して、所定の信頼性レベルでビット・エラー・レート(BER)を測定するには?
デジタル伝送システムの品質を決定する方法の 1つとして、ビット・エラー・レート(BER)の測定があります。

FAQ 2012-12-11

10 MHz基準入力/出力を備えているKeysightオシロスコープは?
6000シリーズ、6000Lシリーズ、7000Aシリーズ、7000Bシリーズ、9000シリーズ、54850シリーズ(出力のみ)、80000Aシリーズ、80000Bシリーズ、90000Aシリーズ、90000 Xシリーズ

FAQ 2012-12-10

86100C/Dデジタル・コミュニケーション・アナライザを使用してテスト・フィクスチャをディエンベディングする方法は?
N1010AソフトウェアにInfiniiSIM-DCAオプションを搭載すれば、フィクスチャ、ケーブル、プローブなどの回路素子をディエンベディング/エンベディングできます。

FAQ 2012-09-25

適切なインピーダンス測定手法の習得を容易にするリソースとしては、どのようなものがありますか?
『インピーダンス測定ハンドブック』があります。是非ご参照下さい。

FAQ 2012-07-17

[仕様] 数kVの高電圧を測りたいのですが、必要なアクセサリや注意点はありますか?
高電圧を測定される場合には、高電圧専用のプローブが必要になります。

FAQ 2012-04-09

[操作方法]コンプライアンスソフトウェアで複数回全ての結果をレポートへ表示する事は可能ですか?
"レポートにて各測定の値を確認なされるには、ソフトウェアのメニューバーより View > Preferences を選択し、 Reportタブ“Trial Display”の回 数をご変更下さい。"

FAQ 2012-02-21

[サービス] アプリソフトウェアをバージョンアップした後、アプリソフトを起動させると、"Automated Test Engine has encountered a problem and needs to close"が発生するようになりました。回避策はありますか?
Microsoft .NET Framework Ver.3.5のインストールがないと、発生することがあります。基

FAQ 2012-02-21

[アプリケーション] USB2.0: High Speed Test治具のE2649AとE2649Bの相違点は何になりますか?
主な違いは、以下になります。

FAQ 2012-02-13

[アプリケーション] DDR: DDR自動化測定ソフトウェアでTjit(per)は、どのようなアルゴリズムで測定されているのでしょうか?
Tjit(per)の定義は、以下の式になります。

FAQ 2012-02-07

[アプリケーション] DDR: DDR自動化測定ソフトウェアの各測定項目は、どのようなアルゴリズムで測定されているのでしょうか?
各測定項目の測定アルゴリズムに関しては、マニュアルに掲載させて頂いています。

FAQ 2012-02-03

送信解析のピーク・パワーは3.78 dBmなのに、ゼロ・スパンでは3.66 dBmなのはなぜですか?
パワー・ドメインではなく、IQドメインで測定されるため、VBW機能がありません。最も重要な要因はバケット幅です。

FAQ 2012-01-22

N9081A/W9081AはBluetooth® 4.0に対応できますか?あるいは、対応する予定はありますか?
はい。N9081A/W9081AはBluetooth 4のLow Energy測定をサポートしています。

FAQ 2012-01-22

Keysight Xシリーズ シグナル・アナライザとN9081A Bluetooth®測定アプリケーションで、Bluetoothホッピング信号を測定することはできますか?
この質問に対する答えを簡単に言えば、「ノー」です。本来、周波数ホッピングはBluetoothデバイスの機能のテストに必要です。

FAQ 2012-01-22

Bluetooth® ACP測定に15分かかるのはなぜですか?
ACP測定に要する時間は、Bluetoothテスト仕様の要件に起因します。

FAQ 2012-01-22

[操作] AC100Vの商用電源のような差動間の電圧を測定したいと思っています。オシロのグランドを取らない等の方法で、測定することはできますか?
オシロスコープのグランドを取らずにご利用になることは、危険ですので、絶対にお止め下さい。

FAQ 2012-01-16

[アプリケーション] Ethernet 治具 N5395AとN5395Bの違いは何でしょうか?
2006年4月にリリースされましたN5392A Version02.00より、1000Base-T試験におきまして以下の測定項目が追加されました。

FAQ 2011-12-08

[アプリケーション]USB2.0:USB2.0コンプライアンステストのアップデート情報を入手したいのですが、どこから入手できますか?
下記のUSB-IFのページよりアップデート情報が入手できます。

FAQ 2011-12-05

85033E 30kHz~9GHz 校正キットのアダプタは、位相整合していますか?
はい。

FAQ 2011-10-07

[操作] Infiniiumである範囲内の平均の電圧測定をしたいと思っていますが、どのような方法がありますか?
Zoom機能を使う方法と、ヒスごグラムを利用する方法の2種類があります。

FAQ 2011-01-18

[アプリケーション]USB2.0:High Speed 信号品質試験にて、デバイスを接続後、HS Electrical Test Tool上でテストパケットを送信させようとしても、デバイスが見つかりません。何故でしょうか?
この試験でよくある間違いは、HS Electrical Test Tool上でデバイス認識させる時に、試験治具上のスイッチをOFFの位置にしていないことです。

FAQ 2010-10-28

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