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[Battery Material Evaluation] Impedance Distribution Measurement Using High Frequencies Enables Obse

型錄 2018-01-16

PDF PDF 448 KB
AFM/SPM Accessories - Brochure
Catalog of all AFM accessories and options

型錄 2016-09-22

PDF PDF 4.63 MB
表面觀察用於半導體晶圓/晶粒、光阻、聚合物表面觀察的奈米級解決方案
是德科技獨家開發了全新的微型靜電束柱(electrostatic beam column),包括 FE 電子源和靜電透鏡。它的大小只有 85(寬)× 38(高)公釐,而傳統靜電束柱的高度則高達 500 - 800 公釐。請即親自體驗全球首見輕巧、不佔空間的桌上型 FE-SEM。

型錄 2016-07-26

PDF PDF 6.85 MB
Advanced Nanomeasurement Solutions - Brochure
High level nanotechnology brochure discussing AFM, FE-SEM and Nanomechanical Testing Systems capabilities across industries and research areas.

型錄 2016-05-06

PDF PDF 7.07 MB
8500 FE-SEM System - Brochure

型錄 2015-05-19

PDF PDF 1.19 MB