Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Техническая поддержка

Электронные измерения

Поддержка по номеру модели:

1-6 из 6

Упорядочить:
Сквозные технологии в микроэлектронике: от идеи до воплощения в серийном производстве
Совместный семинар Keysight Technologies и GS Nanotech "Сквозные технологии в микроэлектронике: от идеи до воплощения в серийном производстве"

Семинар

Using WaferPro Express with B2200A Switch Matrix
We demonstrate sequencing measurements on packaged devices using a B2200A switch matrix, E5270B source measurement unit and socket test fixture. In this paper, we successfully automated the measurement of 8 BJT devices in a single 24 pin package.

Материалы семинаров 2016-12-21

PDF PDF 2.35 MB
Non-destructive testing of powders, ceramic, oils, & other composite materials
Original broadcast December 11, 2014

Интернет-трансляция - записи

Wide Bandgap (GaN & SiC) Power Semiconductor Device Measurements
Learn how to make real time IV measurements on Power Devices at upto 1.5kA and upto 10kV. The Webcast also includes GaN current collapse measurements which are essential for device development and manufacturing process optimisation.

Интернет-трансляция

Measuring Complex Materials and their Components Seminar 2013
Keysight will provide a FREE all day seminar including impedance measurements fundamentals, characterizing complex materials, measuring material properties in nano-scale resolutionand discuss emerging novel materials research-challenges and solutions.

Семинар

1500A & 10kV Device Measurement Solutions for Advanced Semiconductor Power Devices
New Power Device Measurement Solutions (1500 A / 10 kV) for advanced Semiconductor Power Devices.

Интернет-трансляция