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Using WaferPro Express with B2200A Switch Matrix
We demonstrate sequencing measurements on packaged devices using a B2200A switch matrix, E5270B source measurement unit and socket test fixture. In this paper, we successfully automated the measurement of 8 BJT devices in a single 24 pin package.

セミナのプレゼンテーション 2016-12-21

PDF PDF 2.35 MB
IV測定の基礎(資料)
IV測定の基礎(資料)

セミナのプレゼンテーション 2016-01-28

PDF PDF 1.47 MB
CV測定の基礎(資料)
CV測定の基礎(資料)

セミナのプレゼンテーション 2016-01-28

PDF PDF 2.14 MB
Non-destructive testing of powders, ceramic, oils, & other composite materials
Original broadcast December 11, 2014

ウェブセミナ(録画)

ハイ・パワー・デバイスのテストの問題を解決する、新しいパワー・デバイス・アナライザ/カーブ・トレーサ
 

ウェブセミナ(録画)