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半導體參數測試:返回到基礎知識

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概述

這場《返回到基礎知識》研討會的主題包括:高速量測基本原理;快速脈衝 IV 量測,以及在真實環境中實用的電容量測考量。您還可獲得免費贈送的是德科技直流參數量測手冊。

 

此網研討會的目標觀眾

此網路研討會適合半導體特性分析與建模、元件可靠度、元件測試、失效分析及奈米技術等各種不同工作領域的工程師、科學家、教育工作者和學生觀看。

 

主講者:Stewart Wilson 博士

Stewart WilsonStewart Wilson 博士擁有英國格拉斯哥大學的電子和電機工程學士和博士學位。

他自 1979 年開始從事於半導體和半導體相關的工作,從服務於 Motorola 和國家半導體(NS)等半導體元件製造商。此外,他還曾經任職於歐洲和美國的 Eaton Corporation 和惠普/安捷倫等半導體設備供應商。

Stewart Wilson 博士目前擔任是德科技參數測試設備的歐洲業務經理。
 

地點與時間

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