Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Практический семинар: "Параметрическое тестирование полупроводниковых устройств"

Семинар-практикум

"Параметрическое тестирование полупроводниковых устройств"

2 параллельные сессии

Москва, 7 ноября

 

Компания Keysight Technologies приглашает Вас на семинар-практикум "Параметрическое тестирование полупроводниковых устройств", который состоится 7 ноября в Москве.

Программа семинара состоит из двух параллельных сессий и включает доклады технических экспертов Keysight Technologies и партнеров: FormFactor, НТНК и Maury Microwave.

Специальными гостями семинара будут эксперты компании FormFactor - Штефен Грауэр и Гэвин Фишер, которые выступят с докладами о решениях для измерения параметров полупроводниковых устройств на пластине, в том числе для испытаний изделий на основе GaN и SiC.

Каждому участнику семинара будет вручен новейший Справочник по параметрическим измерениям (издание 2019 года).

 

Программа семинара

Сессия 1. Тестирование СВЧ полупроводниковых приборов, анализ параметров материалов Сессия 2. Тестирование полупроводниковых устройств по постоянному току, измерение  параметров ВАХ и ВФХ

 

                                                 Регистрация участников, приветственный кофе                       
10:00-11:00

Решение задачи измерения параметров мощных устройств на пластине  FormFactor                                                         

  10:00 – 10:30

Особенности измерения характеристик перспективных материалов для современной полупроводниковой техники  -  Павел Логинов                                                    

10:30-11:00

Создание и применение нелинейных моделей устройств на основе Х-параметров и DynaFET - Сергей Баранчиков

                                                              11:00–11:30  Перерыв на чай/кофе

11:30-13:00  Передовые технологии контактирования открывают новые возможности

FormFactor
 

Полная автоматизация проведения калибровки и измерения устройств на пластине 

FormFactor

 



 

 11:30-11:45

Услуги ЦСМ Keysight

 11:45 – 12:00 Решения для моделирования мощных полупроводниковых приборов компании Keysight Technologies по постоянному току и в СВЧ-диапазоне - Сергей Баранчиков

 12:00 – 13:00  Измерения динамических характеристик мощных полупроводниковых устройств с помощью нового тестера двойных импульсов PD1500A - Павел Логинов

     13:00 - 13:15  Услуги ЦСМ Keysight

 13:00 – 13:15 Решения Keysight для создания компактных моделей полупроводниковых устройств

Сергей Баранчиков

                                                                             13:15 – 14:15 Обед

14:15 – 15:00    Методики измерения параметров материалов в диапазоне частот до 1,5ТГц  Андрей Скворцов

14:15 – 15:00    Решения для измерения импеданса до 3 ГГц     Павел Байбаков

15:00-15:30 Комплексное исследование характеристик СВЧ-транзисторов с помощью измерительных решений  

Maury Microwave

15:00-15:30 Построение систем измерения СВЧ-параметров устройств в нелинейных режимах и создание моделей активных устройств  Павел Байбаков

15:30-16:00 Решения компании Focus Microwaves для испытаний полупроводниковых устройств    Focus Microwaves

15:30-16:00 Решения для измерения электрических и магнитных свойств материалов  Павел Логинов

 

Для участия в мероприятии необходимо заполнить заявку и направить ее на электронный адрес: seminar.ru@keysight.com

Перед заполнением заявки, пожалуйста ознакомьтесь с программой семинара, которая состоит из двух параллельных сессий с возможностью составить свое индивидуальное расписание.

После получения заявки мы отправим вам подтверждение со схемой проезда.

 
 

Дата Мероприятие Место Заявка на участие
7 ноября      Семинар - практикум "Параметрическое тестирование полупроводниковых устройств" Москва https://yadi.sk/i/ru14e7ykJwB_Kw 

 

С уважением,

Российский офис Keysight Technologies
Тел.: +7 (495) 7973919