Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Современные решения для тестирования и характеризации полупроводниковых структур - Семинар

Компания Keysight Technologies приглашает принять участие в однодневном бесплатном семинаре для разработчиков и производителей интегральных схем «Современные решения для тестирования и характеризации полупроводниковых структур», организованном группой компаний «СКАН» - официальным дистрибьютором Cascade Microtech (FormFactor), Keysight Technologies и Super Solutions & Services (3-S).

Семинар пройдет в Москве 28 марта 2018 года в отеле Будапешт по адресу ул. Петровские линии, д. 2 с 10 до 14 часов.

На семинаре выступят специалисты компании СКАН и инженеры российского офиса Keysight Technologies.

Цель семинара: знакомство участников семинара с обновленной линейкой зондовых станций компании Cascade Microtech и с решениями для характеризации на пластине  компании Keysight Technologies.

На семинаре будет представлена ручная зондовая станция 3-S SPS6, векторный анализатор цепей Keysight серии PNA-X и параметрический анализатор (характериограф) Keysight B1500A/B1506A.

Программа семинара
 

Время Тема доклада Докладчик Компания
09:30 –10:00 Регистрация участников, приветственный кофе-брейк    
10:00 –10:10 Вступительное слово и представление участников Сергей Курдюков ЗАО «СКАН»
10:10 –10:20 Вступительное слово от представительства компании Keysight Technologies в России Павел Логинов,
Михаил Бежко
Keysight Technologies
10:20 –10:30 Компания Cascade Microtech в составе корпорации FormFactor Сергей Курдюков ЗАО «СКАН»
10:30 –10:50

Обзор готовых решений FormFactor на базе ручных зондовых станций семейства MPS

Вячеслав Чачин ЗАО «СКАН»
11:50 –11:00 Особенности параметрических измерений с помощью зондовых станций Павел Логинов Keysight Technologies
11:00 –11:20 Обзор решений Keysight Technologies для тестирования полупроводниковых приборов Павел Логинов Keysight Technologies
11:20 –11:40

Кофе-брейк

 
11:40 –12:00 Обзор полуавтоматических зондовых станций FormFactor семейства Summit.
Презентация решения High Speed (HS)
Вячеслав Чачин ЗАО «СКАН»
12:00 –12:30 Измерения пассивных и активных устройств на пластине в диапазоне частот до 130 ГГц  Михаил Бежко  Keysight Technologies
12:30 –12:50 Экстракция и моделирование полупроводниковых приборов с помощью САПР Keysight IC-CAP Скоков Петр ЗАО «СКАН»
12:50 -13:10 Обзор программного обеспечения Velox для полуавтоматических
зондовых станций FormFactor, основные отличия от Nucleus
Вячеслав Чачин ЗАО «СКАН»
13:10 –13:30 Обзор решений компании Super Solution & Services (3-S), Тайвань Дмитрий Явич ЗАО «Компания СКАН»
13:30 –14:00 Вопросы и ответы. Дискуссия.    

Для участия, пожалуйста, отправьте на электронную почту cascade@scanru.ru или tmo_russia@keysight.com следующую информацию: ФИО, название компании, должность, телефон, e-mail и ожидайте подтверждения регистрации.

Задать вопросы о семинаре можно по телефонам:
+7 (495) 739-50-05 доб. 124
+7 (916) 530-93-83
или по электронной почте.

Дата Мероприятие Место Заявка на участие
28 марта 2018 Современные решения для тестирования и характеризации полупроводниковых структур Москва, отель "Будапешт"

tmo_russia@keysight.com
или cascade@scanru.ru