Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Теория и практика разработки и испытаний современных электронных устройств

Ежегодная конференция Keysight Technologies

Теория и практика разработки и тестирования современных электронных устройств.
4 параллельных секций, 12 тем

Москва, 9 октября 2019

 

Компания Keysight Technologies приглашает Вас посетить ежегодную конференцию, посвященную вопросам разработки и испытаний электронных устройств, которая пройдет 9 октября 2019 в Москве.

На ежегодной конференции Keysight мы обсудим наиболее актуальные вопросы, возникающие в процессе работы в данной области, тенденции, а также применение новейших измерительных технологий в научных исследованиях, разработке и производстве современных электронных устройств. Конференция – это еще и уникальная возможность пообщаться не только с экспертами компании Keysight, но и с коллегами из ведущих научно-исследовательских институтов, конструкторских бюро, ВУЗов, занимающимися разработкой и тестированием электронных устройств, компонентов, систем и сетей в оборонной, аэрокосмической, полупроводниковой промышленности, области беспроводной и волоконно-оптической связи.

Обширная программа конференции включает доклады технических экспертов Keysight Technologies о технологиях и методах измерений, а также практические демонстрации на специализированных измерительных стендах. Партнеры компании Keysight – Диполь, Maury Microwave, Тесарт, Сиринн, Акметрон, НТНК и другие – представят свои уникальные комплексные решения, уже реализованные в России.

Конференция будет интересна как молодым специалистам, так и всем, кто хочет поближе на практике познакомиться с новыми подходами, применяемыми для решения современных прикладных задач с помощью передовых измерительных технологий.

Для удобства участников конференция имеет 4 параллельные секции, в рамках которых будут обсуждаться 12 тем. Каждый участник может выбрать сам, какие именно темы представляют для него наибольший интерес, и в течение дня посетить только интересующие его модули программы.

Каждый модуль длится 2 часа и состоит из теоретической части (основы, ключевые методы и технологии) и практической части.
 

Программа конференции:
 

  10:00-12:00 12.30-14.30 15.30-17.30
Зал 1        

1.1 Вопросы метрологии: решения для поверки, оснащение лабораторий, новые сервисные решения

- Поверка генераторов сигналов - новые инструменты

- Характеризация компонентов от 900 Гц до 120 ГГц

- Сервисные решения ЦСМ Keysight

- Автоматизация поверок контрольно-измерительных приборов с помощью ПО Keysight PathWave Test Automation

- Методы достижения высокой эффективности поверки и калибровки электрических и радиоизмерительных приборов в условиях предприятия.

(Диполь)

2.1 Инновации на всех ступенях образования

- Обзорная презентация решений для высшего образования 

- VSA, BenchVue

- ADS
- Курс по IoT  

- Курс по 5G 

- Учебные наборы 
- Использование оборудования Keysight Technologies в учебной и научной работе студентов  (Акметрон)
 

3.1 Новые подходы к измерениям фазовых шумов

- Двухканальное решение нового поколения для измерения фазовых шумов

 

 

 

 

3.1.1 Доклады Акметрон:

- Решение для автоматизированного тестирования параметров аналоговых и цифровых радиостанций

- Обзор решений компании ETS Lindgren для измерения параметров антенн и проведения ЭМС испытаний

- Автоматизированный измерительный комплекс для измерения параметров приемо-передающих модулей

Зал 2

1.2  Разработка и тестирование устройств IoT

- Анализ энергопотребления устройств IoT с синхронизацией с ВЧ событиями 

 
- Решения для Nb-IoT
 

- Решения для тестирования устройств IoT с интерфейсами Wi-Fi и Bluetooth Low Energy в сигнальном режиме
 

- Пример детального тестирования физического уровня технологии LoRa: ВЧ приемник и передатчик
 

2.2 Разработка и тестирование высокоскоростных цифровых устройств

- Анализ и отладка цифровых устройств на логических анализаторах 


- Новые измерительные приложения, опции и аксессуары для осциллографов Keysight Technologies


- Тестирование на соответствие стандартам цифровых интерфейсов


- Memory Designer - новый функционал САПР Advance Design System для моделирования и анализа целостности сигналов шины памяти DDR
 

3.2 Разработка и тестирование волоконно-оптических систем связи и их компонентов

- Базовые измерения характеристик пассивных волоконно-оптических компонентов


- Анализ высокоскоростных оптических компонентов на базе векторных анализаторов цепей и решения для радиофотоники 

- Тестирование оптических трансиверов
 

Зал 3

1.3 Учет влияния радиоканала на работу систем связи в лабораторных или полевых условиях

- Эмуляция канала связи  


- Проведение драйв тестов  


- Переносной анализатор для планирования, развертывания и обслуживания сетей 5G
 

2.3 Тестирование средств РЭБ. Имитация и анализ сигналов современных РЛС
 

- Развитие эмуляторов каналов Propsim для многоканальной имитации целей


- Решение для анализа импульсных сигналов в реальном времени и идентификации эмиттеров
 

- Генераторы серии UXG для задач имитации сигнальной обстановки при тестировании систем РЭБ

Демонстрации:


1. Динамический контроль сигналов РЛС средствами векторного анализа


2. Стриминг сигналов ФКМ с применением генераторов серии UXG
 

3.3 Методология тестирования устройств 5G

- Решение для проверки терминалов на соответствие требованиям 3GPP 


- Контроль протокольного обмена с базовой станцией 


- Обзор методик тестирования OTA для мм-диапазона 
 

Зал 4

1.4 Разработка элементной компонентой базы в условиях реализации планов по импортозамещению

- Измерения динамических характеристик мощных полупроводниковых устройств с помощью нового тестера с двойным импульсом PD1500A. 


- Методики измерений диэлектрической и магнитной проницаемости материалов до 1,5 ТГЦ 


- Повышение точности измерения коэффициента шума и шумовых параметров несогласованных активных компонентов на базе анализаторов PNA-X.

- Усовершенствование среды измерений для увеличения скорости и качества разработки  (Maury Microwave)


- Интегрированные решения для измерений полупроводниковых устройств на пластине
(НТНК)
 

2.4 Методы контроля качества РЭА на производстве и многоканальные измерения

- Многоканальные измерения и коммутация
 
- Тестирование РЭА в условиях производства: Внутрисхемное тестирование (электрический контроль), граничное сканирование (х1149), бесконтактный контроль (VTEP)
                                      

3.4 Современные методы разработки и тестирования компонентов и узлов радарных и спутниковых систем

- Точные измерения параметров усилителей мощности (EVM, ACPR, NPR) с использованием широкополосного модулированного воздействия на базе анализаторов цепей PNA-X  

- Новые функции САПР Advanced Design System для моделирования систем в корпусе: Smart Mount и RFPro.

- Точное определение параметров усилителей в нелинейном режиме на этапе выходного контроля, новый подход к измерению активных "горячих" S-параметров.

- Антенные измерения во временной области (Сиринн)
- Комплексные испытания цифровых фазированных антенных решеток (Тесарт)

 

 

Для участия в мероприятии необходимо заполнить заявку и направить ее на электронный адрес: seminar.ru@keysight.com

Перед заполнением заявки, пожалуйста ознакомьтесь с программой конференции, которая состоит из четырёх параллельных сессий и разделена на три временных слота. В каждом временном слоте Вы сможете посетить одну сессию, таким образом в течении дня у вас будет возможность посетить три наиболее интересные Вам темы.

После получения заявки мы составим для Вас индивидуальное расписание с выбранными темами и направим его вместе со схемой проезда.
 
 

Форма заявки:

Дата Мероприятие Заявка на участие
9 октября 2019 Теория и практика разработки и тестирования современных электронных устройств.  Ежегодная конференция Keysight Technologies                                   
 
https://yadi.sk/i/1OHcpWDYtw-ukQ 

 
Дополнительная информация по телефону: +7 495 7973928, +7 495 7973919