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Les Mesures d’Ondes Millimétriques

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Les Mesures d’Ondes Millimétriques – Programme
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Accueil & Présentation générale – Keysight
Génération de signaux à ondes millimétriques
Pause & Networking
Analyse de signaux à ondes millimétriques
Pause Déjeuner
Caractérisation des dispositifs à ondes millimétriques
Pause & Networking
Conclusion et Démonstrations pratiques

Séminaire consacré aux fondamentaux de la mesure d’Ondes Millimétriques

Accueil & Présentation générale - Les enjeux qui se cachent derrière la course aux ondes millimétriques

Les systèmes sans fil de prochaine génération tels que les communications cellulaires 5G, les réseaux de front-haul and back-haul, les radars militaires et automobiles, et le WiGig IEEE 802.11ad et 802.11ay permettent un éventail de nouvelles fonctionnalités : une bande passante plus élevée, davantage de terminaux connectés, une faible latence, et une meilleure couverture. Pour répondre aux exigences de large bande passante, les chercheurs explorent les fréquences plus élevées dans les bandes d'ondes centimétriques et millimétriques où davantage de spectre est facilement disponible. Comparé aux bandes passantes traditionnelles utilisées à des fréquences inférieures à 6 GHz pour les communications cellulaires, l'utilisation de centaines ou même plusieurs gigahertz de spectre à ces fréquences plus élevées nécessite de nouveaux composants avec des tolérances physiques beaucoup plus élevées pour atteindre la performance désirée. Les techniques de mesure utilisées pour vérifier les performances RF de ces nouveaux terminaux nécessitent également une attention particulière. Ce séminaire couvrira les bases des technologies cm & mmWave du point de vue du spectre, de la longueur d'onde et de la bande passante. Un certain nombre de défis associés à la conception et à la mesure seront examinés ainsi que des exemples de solutions pour les résoudre. 

 

Génération de signaux à ondes millimétriques

“EVM : Recherche d'un faible niveau d'erreur ”

Lorsqu’on travaille dans les bandes d'ondes millimétriques, il est nécessaire de reconsidérer certains fondamentaux de la génération de signal. Les erreurs telles que le bruit de phase, l’IQ et les erreurs de réponse en fréquence peuvent être amplifiées en ondes millimétriques et doivent être gérées afin que les chercheurs puissent utiliser pleinement cette technologie à large bande. La capacité de générer un signal de très haute qualité avec une faible amplitude de vecteur d'erreur (EVM), et un faible contenu parasite, est essentielle pour garantir que le système sous test fonctionne comme prévu. Pendant cette présentation, nous discuterons des défis liés à la génération d'un signal à ondes millimétriques et des points à prendre en compte lors du choix d'une solution pour répondre à vos besoins de conception et de test.


Analyse de signaux à ondes millimétriques

“Face au défi de la bande passante de plusieurs GHz"

Les rapides montées en fréquence et augmentation des largeurs de bande observées en 5G, ainsi que dans les récentes recherches en communications, créent de nouveaux défis pour la validation des conceptions à ondes millimétriques. Les fréquences des ondes millimétriques nous poussent à reconsidérer ce qui est (et ce qui n'est pas) négligeable, et impactent les performances brutes de puissance, pertes, bruit et plage dynamique. À mesure que les incertitudes de mesure deviennent considérablement plus grandes, il devient beaucoup plus difficile de réaliser des mesures fiables.
Dans cette présentation, nous couvrirons les derniers défis des tests cm-Wave et mm-Wave avec une série d'étude de cas à 28 GHz, 73 GHz et jusqu'à 110 GHz. Nous explorerons également diverses configurations de banc d’essai qui peuvent être facilement adaptées en combinant un logiciel avec un équipement de mesure flexible, aussi performant dans le domaine temporel que fréquentiel, et conçu pour prendre en charge des applications telles que la 5G, les nouveaux standards 802.11ad / ay et des applications back-haul avec des largeurs de bande jusqu'à 5 GHz. Un analyseur de signaux ultra-large bande capable de balayer en une seule fois les fréquences jusqu’à 110 GHz sera présenté. Celui-ci est capable de détecter les émissions spectrales et les parasites que les systèmes à bande classique peuvent manquer, ce qui permet aux ingénieurs R&D de détecter en amont de potentiels problèmes d’architecture majeurs.
 


Caractérisation des dispositifs à ondes millimétriques

“Réaliser des mesures fiables”

Au fur et à mesure que la demande de transmission de grands volumes de données à haut débit augmente, il devient incontournable d'utiliser la bande de fréquences des ondes millimétriques. Cela implique une nécessité, pour les concepteurs et les fabricants de l'industrie, de savoir caractériser et tester à ces fréquences à la fois les composants actifs et passifs. Cette présentation démontrera comment un analyseur de réseau vectoriel peut être utilisé pour satisfaire la nécessité d'une caractérisation de composant à ondes millimétriques pour les dispositifs passifs et actifs.  

 

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Où et Quand
 

Date Lieu Langue de présentation Pour plus d'information
2018-06-26 Bangalore, India Anglais Inscrivez-vous ici
2018-07-12 Petach Tikva, Israel Hébreu / Anglais Inscrivez-vous ici
2018-09-11 Leuven, Belgium Anglais Inscrivez-vous ici
2018-09-13 Eindhoven, Netherlands Anglais Inscrivez-vous ici
2018-11-14 Edinburgh, UK Anglais Inscrivez-vous ici