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半导体参数测试:返回到基础知识

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概述

在此次“返回到基础知识”研讨会中,您将了解到以下内容:高速测量基础知识;在真实环境中进行快速脉冲 IV 测量和实际电容测量的注意事项。您还将了解如何获得免费版的安捷伦科技直流参数测量手册。

 

谁应观看此次网络研讨会?

半导体表征和建模、器件可靠性、元件测试、故障分析和纳米技术等各领域的工程师、科学家、教师和大学生都可能对此次网络研讨会感兴趣。

 

演讲人:Stewart Wilson 博士

Stewart WilsonWilson 博士从(英国)苏格兰格拉斯哥大学获得电子与电气工程学士学位和博士学位。

Wilson 博士从 1979 年起一直在半导体和半导体相关领域的工作。他曾经供职于半导体器件制造商摩托罗拉和美国国家半导体公司。此外,他还曾为半导体设备供应商伊顿公司工作,并在惠普/安捷伦科技的欧洲和美国分公司任职。

Wilson 博士目前担任安捷伦科技公司参数测试设备部门欧洲区业务经理。

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