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H7215A/B-203 PNA Series Network Analyzer Operation

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Fondamenti di Misure ad Onde Millimetriche - Agenda
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Benvenuto & Introduzione – Keysight
Argomento 1: Generazione di Segnali ad Onde Millimetriche
Pausa Caffè e Incontri Informali
Argomento 2: Analisi dei Segnali ad Onde Millimetriche
Pranzo
Argomento 3: Caratterizzazione di Dispositivi ad Onde Millimetriche
Pausa Caffè e Incontri Informali
Conclusioni e Dimostrazioni Pratiche

Presentazioni & Sintesi

Benvenuto & Introduzione – I driver oltre la corsa alle frequenze ad onde millimetriche

I sistemi wireless di prossima generazione, come le comunicazioni cellulari 5G, le reti front e back-haul, i radar militari e automobilistici, nonché gli standard IEEE 802.11ad e 802.11ay WiGig, puntano a una gamma di nuove funzionalità, tra cui una maggiore larghezza di banda, più dispositivi collegati, bassa latenza e una migliore copertura. Per affrontare i requisiti di ampiezza di banda, i ricercatori stanno esplorando le frequenze più elevate nelle bande d'onda di centimetri e millimetrici in cui è disponibile più spettro. Rispetto alle larghezze di banda tradizionali utilizzate a sub-6 GHz per le comunicazioni cellulari, l'utilizzo di centinaia o persino di parecchi gigahertz di spettro a queste frequenze superiori, richiede nuovi componenti con tolleranze fisiche molto elevate per raggiungere la prestazione desiderata. Le tecniche utilizzate per misurare le prestazioni RF di questi nuovi dispositivi richiedono anche una particolare attenzione. Questo seminario coprirà le basi delle tecnologie cm & mmWave dalla prospettiva dello spettro, della lunghezza d'onda e della larghezza di banda. Saranno inoltre esaminate alcune sfide relative alla progettazione e alla misura, con esempi reali su come risolverli.
 

Argomento 1: Generazione di Segnali ad Onde Millimetriche

“EVM: la ricerca di un basso livello di errore"

Quando si lavora in bande d'onda millimetriche, occorre fare nuove considerazioni sulla generazione dei segnali. Gli errori come i rumori di fase, IQ e gli errori di risposta in frequenza possono essere peggiori ad onde millimetriche e devono essere affrontati opportunamente per assicurare che i ricercatori possano utilizzare pienamente questa tecnologia a banda larga. La possibilità di generare un segnale di altissima qualità con un basso livello di errore (EVM) e con un basso contenuto di spurie è fondamentale per garantire che il sistema in esame funzioni come previsto. In questa presentazione discuteremo le sfide per la generazione di un segnale ad onde mm e le considerazioni da fare quando scegliamo una soluzione di test per soddisfare le esigenze di progettazione.


Argomento 2: Analisi dei Segnali ad Onde Millimetriche

"Affrontare la sfida multi-GHz a banda larga "

Il rapido aumento nei range di frequenza e nelle larghezze di banda del 5G e delle ricerche emergenti nelle comunicazioni, creano nuove sfide per la convalida dei progetti ad onde millimetriche. Le frequenze delle onde millimetriche esprimono ipotesi di ciò che è e non è trascurabile e rubano prestazioni grezze, tra cui potenza, perdite, rumore e dynamic range. Poiché le incertezze di misura crescono drasticamente, rendere le misure affidabili diventa molto più difficile.
In questa presentazione verranno illustrate le ultime sfide del test a cm-Wave e mm-Wave con una serie di case study a 28 GHz, 73 GHz e fino a 110 GHz. Esploreremo inoltre una varietà di configurazioni di "testbed" che possono essere facilmente adattate combinando il software con dispositivi di misura ad alte prestazioni, in tempo e dominio di frequenza flessibili progettati per supportare applicazioni tra cui 5G, gli emergenti 802.11ad/ay e applicazioni di back-haul con larghezze di banda fino a 5 GHz. Un analizzatore di segnali ultra-wideband fino a 110 GHz introdotto nel sistema, può trovare in un solo sweep le emissioni spettrali e le spurie che i tipici sistemi in banda possono perdere, consentendo una risoluzione più rapida di problematiche architettoniche rischiose nelle fasi di R&D.


Argomento 3: Caratterizzazione di Dispositivi ad Onde Millimetriche

"Misurare le frequenze alle onde millimetriche con livelli di eccellenza metrologica "

Con l'aumento della domanda di trasferimento di grandi volumi di dati a velocità elevate, esiste una crescente necessità di utilizzare la banda di frequenza delle onde millimetriche. Ciò aumenta la richiesta dei progettisti e dei produttori del settore di poter caratterizzare e testare in modo completo le componenti attive e passive a tali frequenze. Questa presentazione si focalizzerà su come un Vector Network Analyzer possa essere utilizzato per assolvere alla necessità di una caratterizzazione del componente ad onde millimetriche per dispositivi passivi e attivi.
 

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Dove e Quando
 

Data Luogo Lingua di presentazione e Per maggiori informazioni/Scopri di più
2018-04-11 Winnersh, UK Inglese Registrati qui
2018-05-09 Stockholm, Sweden Inglese Registrati qui
2018-05-22 Limerick, Ireland Inglese Registrati qui
2018-05-23 Gothenburg, Sweden Inglese Registrati qui
2018-05-24 Belfast, UK Inglese Registrati qui
2018-05-30 Lund, Sweden Inglese Registrati qui
2018-06-06 Birmingham, UK Inglese Registrati qui
2018-11-14 Edinburgh, UK Inglese Registrati qui

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PNA Series Network Analyzer Operation 

Data Sheet 2007-07-05

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