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ウェーハ・レベル測定ソリューション

構成から、インストール、サポートまで保証されるウェーハ・レベル測定ソリューション

Keysight TechnologiesとCascade Microtechが提供するウェーハ・レベル測定ソリューションでは、構成から、インストール、サポートまで保証され、正確で再現性の高いテストを実現し、最初の測定までの時間を最短化して、異なる場所で取得したデータの相関を確実に行えます。

代表的な構成は、PNA/PNA-Xネットワーク・アナライザ、B1500A半導体デバイス・パラメータ・アナライザ、N6705B DCパワー・アナライザに、KeysightのWaferPro Express(WaferPro-XP)測定ソフトウェア・プラットフォームを組み合わせたものです。これらに、Cascade Microtechの半自動ウェーハ・プローブ・ステーション、WinCal XE校正ソフトウェア、校正用のインピーダンス基準基板を統合できます。

  • 正確で再現性の高いウェーハ・レベル測定
  • 検証済みのシステム構成で、お客様のアプリケーションに適合
  • 統合インストールにより、定義済みの受け入れ基準に適合
  • ソリューション専用の問い合わせ窓口
  • ソリューション担当者によるシステムの最適化
  • システム構成、インストール、サポートの保証
  • 詳細についてはお問い合わせください。KeysightのパートナーであるCascade Microtechから連絡を差し上げ、お客様のご要求を詳細に検討いたします。

Available Solution Briefs

Wafer-level Measurement Solutions - Overview 
Co-branded brochure describing wafer-level measurement solutions from Cascade Microtech and Keysight.

ブローシャ 2014-08-04