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i3070 の特長とベネフィット

何が新しいか?

使い易さ
新しいポイント・アンド・クリック式のインタフェースにより、ユーザはテスタを使用中にコマンドを打ち込む必要がありません。すべてのコマンドは、メニュー・ベースです。したがって、ユーザは、実行する各コマンドを覚えておく必要がありません。これは、未経験者でも素早くテスタを使い始めることができることを意味します。

対話式ピン・ロケータ
この対話式ピン・ロケータにより、ユーザはプローブやテストヘッド・リソースと同じように被試験ボード上のどのコンポーネントでも探すことができます。このツールは、"find pins" コマンドを進化させたもので、デバッグ工程において不良コンポーネントの位置やフィクスチャ上のプローブの位置を確認することができます。また、手持ちプローブを一緒に使い、コンポーネントのピンへの接続性を速やかにチェックすることができます。

テスト開発の改善
テスト開発のアルゴリズムが改善されました。
IPG の中で、抵抗やコンデンサの試験では、2 線式から 6 線式までのワイヤ選択や試験オプションの選択が試験時間を最適化するように改善されています。
代表的なボードにおいて、アナログ試験時間で 20% の改善が見込めます。ショート試験でのノード・シーケンスは、ファントム・ショートの発生を減らすために再計算されています。

AutoDebug (自動デバッグ)
AutoDebug 機能は、Keysight i5000 で初めて発表され、現在 Keysight i3070 でも利用できます。ユーザが変更できるルール・セットを使い、AutoDebug 機能は、安定性を確保するために、既知の良好なボードを基にして各アナログ試験を変更します。ルール・セットは、ユーザがデバッグ工程中に取るアクションを模倣します。各コンポーネントのタイプによって、異なるルール・セットを利用することができます。試験の安定性を決定するために統計手法 (CPK) が採用されています。この自動機能は、通常 3 日ぐらいのデバッグ工程を 4 時間程度に短縮します。

AutoOptimizer (自動最適化)
AutoOptimizer 機能は、製造試験エンジニアのためのツールです。製造工程中のフィクスチャの磨耗と裂傷および工程パラメータの変更により、製造試験エンジニアは試験オプションを変更する必要が生じます。AutoOptimizer は、その試験時間を単にボタンをクリックするだけの簡単さで最適化し、試験あたりの時間を 10 ~ 50% 短縮します。AutoOptimizer は、ユーザ指定の CPK まで安定に試験できることを確かめます。プログラムが製造運転中に変更されてクリーンにされることは素晴らしく、その後の試験を迅速かつより確実に走らせます。

Mux ピン・カードから UnMux ピン・カードに変換する柔軟性
Keysight i3070 は、単一のソフトウェアの流れとハードウェアのコンパティビリティを維持することにより、ユーザは、HybridPlus Mux ピン・カードか、 Hybrid 144 UnMux ピン・カードのどちらかを使うことができます。

革新的な特長
VTEP v2.0
Medalist VTEP v2.0 は、統合されたベクターレス・テスト技術です。Keysight Medalist VTEP 技術および大賞受賞の Medalist iVTEP と、新しいNPM (ネットワーク・パラメータ測定) 技術を包含します。 新しいNPM (ネットワーク・パラメータ測定) 技術は世界初のものであり、ユーザは、高速通信コネクタにおける電源オープン・ピンおよびグランド・オープン・ピンを検出できるようになります。これは、従来のインサーキット・テストでは困難とされてきたことです。

特長とベネフィット

顧客の問題特 長ベネフィット
スキルのあるエンジニアとオペレータの不足、従業員の高い離職率グラフィックによるオペレータ・インタフェースおよびデバッグ・インタフェース- 使い易さ
- 習得時間の短縮
- 英語では習熟が困難
 自動デバッグ対話式 GUI と AutoDebug ツールによるデバッグ生産性の改善、未熟練エンジニアでも常に同じ結果
 試験時間表示デバッグ中の時間モニタを通して試験時間を維持
高い製造出力改良された試験作成アルゴリズムがスループットを改善- 抵抗およびコンデンサ試験は試験時間最適化を考慮して作成
- 幻の "短絡" の発生を減らす改良された "短絡" 試験で試験デバッグ時間を短縮
 改良されたアナログ試験スループット (Auto-Optimizer)- 試験予算における資産効果の改善
- 統計手法を使って試験の安定化 (ユーザ指定の CPK)
既存のテスト・フィクスチュアおよびプログラムの再使用が必要3070/i5000 相互間のトランスポータビリティ試験への投資保護
全世界への展開が簡単かつ速やかに必要可般性、再現性、安定性信用でき、頑丈で、使い方が簡単な弊社のテスタが世界展開を実現
少ない試験投資低価格より良い投資効果

i3070ファミリでは、同一のMUX/UNMUXピン・カード、6線式アナログ・インサーキット・テストのほか、VTEP v2.0、AutoDebugツール、AutoOptimizerツール、対話式ピン・ロケータ・ツールなどの新しいテスト機能を使用できます。

構成は、サポートするサイズ、最大ノード数およびチャネル数により異なります。