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WaferPro Expressの主な特長

WaferPro Express Main WindowWaferPro Expressは, 統合されたオープンな自動オンウェーハ測定環境を提供する新しい測定ソフトウェアプラットフォームです。WaferPro Expressは特性評価に関する真の顧客ニーズに対応するソリューションです。これにより, アダプティブ測定アルゴリズムなどの効率的な測定ルーチンライブラリー(内蔵, ユーザー定義)を使用でき, 測定時間を削減できます。

WaferPro Expressについて詳細は, WaferPro Express ブローシャをダウンロードしてください。

WaferPro Expressの主な特長

最初の測定までの時間を削減:

  • CMOS, BJTなどの主要テクノロジーにすぐに使用できるDC/CV/RFテストアルゴリズム
  • 50以上のターンキードライバーにより, 一般的な測定器, インタフェース, オペレーティングシステムに対応
  • セットアップ/検証が容易なウェーハレベル測定ソリューションシステム

動テストの日常的な設定作業を簡素化:

  • 最新の使いやすいユーザーインタフェースによるウェーハマップとテストプランの定義
  • Cascade Microtechプローバ制御ソフトウェアとの独自の統合機能

生産性の向上:

  • 高度なデータディスプレイとウェーハ・データ・マッピング・ビュワー
  • 大量データを処理できるSQLデータベース

複雑/特殊な問題を解決可能:

  • Python/PELプログラミング環境によりデータのモニタ/後処理, 測定器ドライバーの実装が可能
  • スイッチマトリクスドライバーの変更によりさまざまなプローブカードと接続をサポート

ウェーハレベル測定ソリューション

WaferPro Expressは, キーサイト・テクノロジーとCascade Microtech社が提供するウェーハレベル測定ソリューション(WMS)の中核となるソフトウェアコンポーネントです。

すべてのWMSはキーサイトとCascade Microtechによって検証されており, 最初の測定まで最短の時間で, 正確に高い再現性でデバイス/コンポーネントを特性評価できます。

すべてのWMSは, システム構成から, インストール, サポートまで保証されます。

WMSに関する詳細は, ウェーハレベル測定ソリューション – Cascade Microtechを参照してください。

Wafer-level Measurement Solutions (WMS)

図 1. 構成から, インストール, サポートまで保証される代表的なWMS DC/RFデバイス・モデリング・ソリューション テストエンジニアは, 高速かつ正確な検証済みのウェーハレベル半導体測定ソリューションを実現できます。このソリューションにより, 測定性能と, さまざまな位置の相関を確信でき, 最初の測定までの時間を最短にできます。

WaferPro Expressは, デバイス・モデリング・フローのどの部分の製品に位置付けられるのでしょうか?

 

WaferPro Express in the Device Modeling flow

図 2. デバイス・モデリング・フローの中のWaferPro Express

IC-CAP WaferProとWaferPro Expressの違いは何でしょうか?

  • IC-CAP WaferProは, 1つのプラットフォームで測定とモデリングを行うユーザーまたは新しい測定管理システム(MMS)を利用する必要のあるユーザー向けです。これはIC-CAP WaferPro独自の用途です。IC-CAP WaferProは卓越した柔軟性を備え, Keysight半導体テスタをドライブし, 付属するIC-CAP環境でモデリングを共有できます。
  • WaferPro Expressは, 簡単に使用できるコストパフォーマンスの高い効率的な自動オンウェーハ測定ソリューションが必要なすべてのお客様向けのソリューションです。

詳細情報:

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