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誘電率 温度変化測定の決定版 -70~300℃ 測定システム

シート、薄膜、多層薄膜、液体およびジェルの比誘電率/tanδ測定に最適

《JIS、ASTM規格準拠》
平面板、液体、ジェルの比誘電率およびtanδを非常に精度よく測定するシステムです。オプションで-70°C~+300°Cの温度範囲をカバーしています。Windows PCにより、E4980AプレシジョンLCRメータと恒温・恒湿槽を制御、時間のかかる温度湿度変化測定を自動化可能です。

準拠規格
ASTM D-150、JIS C2101、JIS C2141、JIS K6911
JIS C 2111 28.1.2 (B 法) 他

アプリケーション

  • 電子部品用材料特性評価
  • 半導体特性評価
  • 材料の劣化評価
  • 化学特性評価

サンプル例

  • プリント基板(プリプレグ)
  • 半導体ウェハ
  • 純水
  • フルーツ
  • グリス

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誘電率 温度変化測定の決定版 -70~300℃ 測定システム 
シート、薄膜、多層薄膜、液体およびジェルの比誘電率/tanδ測定に最適

ブローシャ 2019-04-23

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