検索された製品ページを表示しています その他の検索結果:

 

お問い合わせ窓口

キーサイト センター・オブ・エクセレンス "Center of Excellence(CoE)" ご利用のお申込み

期待を超える新しい発見と驚きがここに!

 

 

センター・オブ・エクセレンス “Center of Excellence(CoE)”、電子計測コンサルティング・センター 八王子にオープン

課題・悩み・チャレンジをお持ちください。 新たな発見を提供します。さまざまな技術分野の測定スペシャリストが計測技術とノウハウを提供し、お客様のデバイスの実測や解析をサポートします。最新の測定ソリューションを試したり、各種コンプライアンス試験の事前確認を行うこともできます。

 

世界最高峰のスペシャリスト スタンダードから最先端まで充実した計測器ラインアップ 幅広いアプリケーション
業界団体の第一人者や、電子計測のあらゆる分野の規格や測定に対応したアプリケーション・エンジニアが高度な計測技術とノウハウを提供し、お客様のデバイスを実測・解析したり、問題のデバッグや原因追究をサポートします。 複雑化・高度化したシステムのテストにはさまざまな技術分野の計測器を連携して原因追究にあたる必要があります。社内には300種類を超える豊富な計測器を用意しており、あらゆるテストに対応することができます。 高速デジタル、光伝送、EMIノイズ、無線通信、半導体特性、電子部品等、各分野に対応したソリューションを提供しています。豊富な計測器と共に構成される最新の測定ソリューションが迅速な問題解決に貢献します。

 

◆ソリューション例◆

アプリケーション・エンジニアがお客様のデバイスの実測や解析をサポートします。また、最新の測定ソリューションをお試しいただくこともできます。下記以外のソリューションについても対応可能です。ご相談ください。

 

◆高速デジタル 

ソリューション 測定内容、条件など
PCIE Gen1/2/3 信号品質テスト、受信性能テスト、プロトコルテスト
USB 2.0/3.0 信号品質テスト、受信性能テスト、プロトコル検証
DDR 3/4、LPDDR3、GDDR5 信号品質テスト、タイミングパラメータ測定、プロトコルテスト
UHS-II 信号品質テスト、受信性能テスト、リタンロス測定 SDAメンバー限定
SATA Gen1/2/3 信号品質テスト、受信性能テスト、リタンロス測定、プロトコルテスト
Ethernet 10M/100M/1G 信号品質テスト、リタンロス測定
HDMI 1.4b 物理レイヤテスト、プロトコルテスト
MHL 物理レイヤテスト
Display Port 物理レイヤテスト
LVDS 信号品質テスト、リタンロス測定
V-by-One 信号品質テスト
MIPI M/D-PHY 信号品質テスト、受信性能テスト、プロトコルテスト
ケーブル特性測定 USB/HDMI/Display Port などの規格に対応したケーブル特性評価

 

◆光伝送 

ソリューション 測定内容、条件など
光変調解析 EVM、IQダイアグラム測定
光インターコネクション評価 アイパターン、BER測定
光トランシーバ評価 アイパターン、BER測定
光コンポーネント評価 ロス、PDL、帯域測定

 

◆部品評価 

ソリューション 測定内容、条件など
誘電率測定 お客様のデバイスを測定する際は、3サンプルまでとさせて頂きます。
弊社の標準治具で対応可能なものに限らせて頂きます。
形状によっては測定できない場合がございます、ご了承ください。
透磁率測定 お客様のデバイスを測定する際は、3サンプルまでとさせて頂きます。
弊社の標準治具で対応可能なものに限らせて頂きます。
形状によっては測定できない場合がございます、ご了承ください。
インピーダンス測定 お客様のデバイスを測定する際は、3サンプルまでとさせて頂きます。
弊社の標準治具で対応可能なものに限らせて頂きます。
形状によっては測定できない場合がございます、ご了承ください。
半導体パラメータ測定 IV/CV特性の測定。
弊社の標準治具で対応可能なものに限らせていただきます。
パワー半導体測定 IV/CV特性の測定、10kV、1500A。
弊社の標準治具で対応可能なものに限らせていただきます。

★2013/07 New★

<パワー・デバイスのウェハ測定もできるようになりました>
B1505A パワー・デバイス・アナライザ/カーブ・トレーサ による パワー・デバイス測定は、これまではパッケージされたデバイスでの測定に限定していましたが、プローバの準備も整ったので、ウェハでの測定もできるようになりました。1500A/10kVまでの測定はもちろん、容量測定も可能です。最新の測定環境で SiC、GaN、IGBTデバイスの特性を確認できます。
 

 

◆ワイヤレス通信 

ソリューション 測定内容、条件など
IEEE802.11無線LAN 電波法測定、変調解析(EVM等)

 

◆EMC 

ソリューション 測定内容、条件など
EMIデバック 近磁界プローブを使用した、基板からの放射ノイズ測定

 

◆主な計測器

オシロスコープ、スペクトラム・アナライザ、ネットワーク・アナライザ、ハンドヘルド・テストツール、デジタル・マルチメータ、LCRメータ、電源アナライザほか。

 

◆費用◆

原則無料。内容により、ご相談させていただく場合もございます。

 

     ↓↓ ご利用には、こちらから事前にお申込みください ↓↓

ドキュメントおよびダウンロード

Keysight CoE キーサイト センター・オブ・エクセレンス 
アプリケーション・エンジニアがお客様のデバイスの実測や解析をサポートします。また、最新の測定ソリューションをお試しいただくこともできます。ご相談ください。

ブローシャ 2014-08-21

null PDF 2.25 MB