検索された製品ページを表示しています その他の検索結果:

 

お問い合わせ窓口

1/fノイズ測定システム

概要

アナログICの応用範囲の広がりにより、ICに要求される性能が大変厳しくなっています。
なかでもノイズに関する注目が高くなってきています。1/fノイズは測定が非常に難しく、
測定やSPICE用のノイズモデルパラメータ抽出を安定的に行うには高いレベルでのノウハウ、
経験が必要となります。
キーサイトの1/fノイズ測定システムは、お客様の測定仕様に応じたコンサルティングにより、
高速かつ正確/安定な1/fノイズ測定、パラメータ抽出を実現します。

1/f noise

仕様/製品選択・構成ガイド

Keysight 1/f Noise Measurement System

IC-CAPカスタムツール及びコンサルティングサービスの紹介

導入事例

旭化成エレクトロニクス様 最新1/fノイズシステム導入により業界最高の低ノイズプロセス開発へ

詳細

測定デバイス

  • 3端子または4端子FET
  • 3端子または4端子BJT
  • 2端子Diode(ただし、Diodeは1/gm>>RLOADという条件下で測定可能)
  • 上記デバイスはSi、SiGe、化合物等の材料を問わず測定が可能

システムの構成

図1 システムの構成の概略図

system

DC源/モニタとシグナル・アナライザは、お客様の資産を活用して、最適なシステムを構築します。
最も高性能なシグナル・ソース・アナライザE5052Bを使用したシステムでは、世界最高の速度と品質で1/fノイズが測定可能です。

世界最高速の1/fノイズ測定

シグナル・ソース・アナライザE5052Bを使用するシステムでは、1/fノイズの測定速度が従来比で約10倍高速化できます。

図2 新旧システムでの速度比較

speed

注:旧システムとは、弊社の旧システムで、他社の一般的なシステムと同等。

RTSノイズ測定も同時測定

本システムでは1/fノイズとRTSノイズが同時に取得可能です。しかもRTSノイズは、世界最長600万サンプリングポイントの測定が可能です。

図3 1/fノイズとRTSノイズの同時測定

1/f noise RTS noise

失敗のない測定を全自動で

1/fノイズの測定には高いレベルでのノウハウと経験が必要です。本システムには弊社の長年に渡るノウハウと経験が
ハードウェアとソフトウェアに組み込まれています。
特にソフトウェアは、測定の経験の浅い方でも失敗の無いように、複雑な入出力抵抗の設定を自動化、本当にデバイスのノイズが測定できているのかを
即座に判断できる機能により、導入直後から安心して使用できます。

お客様に合わせて最適化

本システムは、お客様が所有する測定器をなるべく流用する等、柔軟なカスタマイズが可能になっており、全てコンサルティングサービスでご提供しています。

主な特徴

  • 業界最高の機能と性能
    • 高速/広帯域ノイズ測定
    • RTSノイズ観測 (E444xAを除く)
    • 高電圧・大電流デバイス測定
    • 低システムノイズ
    • プリアンプのGain校正機能
  • ユーザーを選ばない高い操作性
    • 測定の完全自動化
    • 入出力抵抗の自動設定機能
    • 実測値とシステムノイズの比較表示機能
  • 豊富な解析機能
    • 複数の1/fノイズ(バイアス依存)を一つのPlot上で表示
    • 面内測定のDC、1/fノイズを一つのPlot上で表示 (面内ばらつき確認)
    • ロールオフ周波数の自動計算・表示機能
    • RLOAD換算機能
  • オプション
    • ウェハ面内ばらつき測定
    • フリッカーノイズ・パラメータ抽出

関連リンク