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전문가 상담

Keysight Vectorless Test Solution

Smallest vectorless test probe in the industry - nanoVTEP

nanoVTEP is Keysight’s latest fixture accessory designed to increase your in-circuit test coverage for small device geometries. Through advanced manufacturing technology, the latest design can perform vectorless test on electronic devices with outlines as small as 4mm x 4mm, a 60% reduction in footprint compared to a VTEP probe with 10mm x 10mm sensor plate. This overcomes test probe placement challenges in high density fixtures with minimum keep-out space.

Mechanically engineered to provide high wear resistance, its compact body houses a miniature amplifier that provides stronger signal amplification, improving Cpk and mean values.

Application Scenario

High density fixtures with pressure fingers installed to reduce PCB flexing is contesting existing VTEP solution for space. With inadequate clearance, it’s not uncommon to circumvent this limitation by placing the amplifier further away from the sensor plate, the ramification is undesired signal attenuation from longer wires and readings are susceptible to interference from other fixture electronics.

With a smaller physical profile, nanoVTEP enables greater opportunity for vectorless test implementation on high density boards when fixture clearance is a premium. The amplifier is placed ideally above the device under test, providing a shorter signal path for better signal measurement with less distortion.
 

Requirements
Hardware
nanoVTEP signal conditioning Mux card
nanoVTEP sensor plate
nanoVTEP amplifier and probes

Software
i3070 software ver.09.01sb and above
License – no license required

VTEP v2.0 Powered, with Cover-Extend Technology

Cover-Extend Technology (CET) part of VTEP v2.0 Powered test suite

Now, get test coverage without test access with Cover-Extend Technology which is part of the growing suite of VTEP solutions, the VTEP v2.0 Powered test suite. Click here to learn more about Cover-Extend Technology

What is the VTEP v2.0 Powered test suite?
Keysight’s award winning test suite brings you the most comprehensive set of tools to meet the demands today’s electronic manufacturing test brought on by lack of test access, ultra-small IC packaging, GHz signaling and assurance of signal integrity.

VTEP
The VTEP hardware is 4X more sensitive and up to 5X better in standard deviation than its predecessor, Testjet. The Autodebug function with per-pin-threshold characterization enables debugging in seconds. With the latest i3070 software, you get enhanced speed (up to 4X) and better guarding as well.

iVTEP
The technology is for devices with ultra low value measurement of signal pins (< 5fF) of ICs. Targeting ultra small IC packages, flip chips and devices with minimal or no lead frame at all, iVTEP even works with ICs with non-grounded heat spreaders and heat sinks.

Cover-Extend Technology (CET)
Cover-Extend Technology is a hybrid between VTEP and Boundary Scan. This is a powerful limited access tool able to help improve your test coverage or even reduce your test point For more information, click here.

Requirements
Hardware
VTEP signal conditioning Mux card
VTEP sensor plate
Amplifier board
Cover-Extend Technology (CET) card - for CET only

Software
Medalist i3070 software ver.07.20p and above
License - for CET only

Part-Numbers Available For Order

VTEP Products Description
N4300-66534 CET (Cover-Extend Technology) Signal-conditioner card (pack-of-1)
N4300A Signal Conditioning MUX Card (Qty : 10)
N4301A Probe Active Electronics (Qty : 50)
N4302A 1.2 Inch Passive Sensor Plate (Qty : 100)
N4303A 2.5 Inch Passive Sensor Plate (Qty : 50)
N4306A 0.5 X 6.0 Passive Sensor Plate (Qty : 50)
N4307A Connect Check Mux Card (Qty : 10)
N4311A Small Probes (Qty : 50)
N4312A Small Probes (Qty : 250)
N4313A Probes (Qty : 250)

문서자료 및 다운로드

Medalist VTEP v2.0 구동, CET(Cover-Extend Technology) 포함 (영어) 
이 브로셔는 VTEP v2.0 구동 벡터리스 테스트 패키지의 CET에 대한 개요를 제공합니다.

브로셔 2010-04-06

null PDF 237 KB
CET 포함 Medalist VTEP v2.0 구동 소개 다운로드  

기본 데모 2008-04-18

기사 재인쇄: 커넥터의 전력/접지 결함 찾기 - 새로운 접근방식 (영어)  
이 기사는 이러한 결함에 대한 기존 테스트를 조사하고 네트워크 파라미터 측정에 기반한 새로운 솔루션을 소개합니다.

기사 2008-03-06

null PDF 199 KB
키사이트 Medalist VTEP v2.0으로 테스트 커버리지 극대화 (영어) 
이 기사는 키사이트테크놀로지스의 업계 최고 벡터리스 테스트 혁신이며 VTEP, iVTEP, NPM으로 구성되어 있는 솔루션 패키지인 Medalist VTEP v2.0을 최대한 활용하는 방법을 설명합니다.

어플리케이션 노트 2007-04-17

키사이트 TestJet에 정면으로 맞서는 VTEP(Vectorless Test EP) - 사례 연구 (영어) 
VTEP는 특히 BGA, 마이크로 BGA, SMT 에지 커넥터 같은 테스트하기 어려운 패키지가 포함된 보드에서 과거의 TestJet 기술에 비해 인-서킷 테스트 커버리지를 80% 이상 개선할 수 있는 능력을 입증했습니다.

사례연구 2017-12-01

null PDF 1.64 MB
Medalist iVTEP - 지능형 VTEP(Vectorless Test EP) (영어) 
TestJet과 VTEP의 장점을 토대로 구축된 키사이트 iVTEP(intelligent Vectorless Test Extended Performance)는 초소형 구조 패키지, 플립 칩, 리드 프레임이 최소거나 없는 디바이스, 그리고 열 확산기에 사용할 수 있습니다.

기술 개요 2009-09-17

Head-to-Head Comparison - Vectorless Test: NanoVTEP vs VTEP - Case Study  
This case study summarizes some of the results of early tests conducted at customer sites, and includes results of controlled tests conducted in Keysight’s R&D lab.

사례연구 2018-06-05

null PDF 3.39 MB
TestJet & VTEP 하드웨어 설명 및 검증 (영어) 
이 어플리케이션 노트는 TestJet과 VTEP 하드웨어 콤포넌트, 그리고 테스트 픽스처의 어셈블리에 필요한 연결에 대해 설명합니다. 또한 픽스처 검증기의 설정과 사용에 대한 지침도 제공합니다.

어플리케이션 노트 2010-12-22

키사이트 CET(Cover-Extend Technology)와 함께 사용하기 위한 픽스처 구축 방법 (영어) 
CET(Cover-Extend Technology)는 인-서킷 테스트를 위한 키사이트의 최신 제한 액세스 솔루션입니다. 이 백서는 픽스처 벤더가 Cover-Extend 픽스처를 구축하기 위해 필요한 정보를 기록합니다.

어플리케이션 노트 2011-06-24

네트워크 파라미터 측정: 키사이트 Medalist i3070을 이용한 모범 사례 (영어) 
이 백서는 소프트웨어 버전 7.20p의 향상 기능을 사용해서 키사이트 Medalist i3070 인-서킷 테스트 시스템에서 네트워크 파라미터 측정 기능의 이점을 극대화하는 방법에 대해 설명합니다.

어플리케이션 노트 2009-04-02