- 고밀도 포트의 확장 가능한 모듈형, 다중 포트, 멀티유저 아키텍처
- 표준 TCL 스크립트 언어를 통한 테스트 사용자 정의 및 자동화
- 다중 레벨, 다중 분기 트리거링 및 필터링 순서기
- 분석 하위 시스템 각각에 1 Gbyte의 대용량 포착 트레이스
- 트레이스 내용을 계층적 트레이스로 표시
- 트레이스 내용을 계층적 트레이스로 표시
- 완전한 와이어 속도에서 사용자 정의 가능한 다중 계층 트래픽 생성 및 분석
- 데이터 플레인 및 패브릭 서비스 동시 테스트
키사이트의 1735A는 1, 2 및 4Gb/s 광 채널을 위한 다중 어플리케이션 테스트 모듈입니다. 2개의 독립된 광 채널 포트 쌍을 통해 광 채널 프로토콜 분석, 트래픽 생성 및 성능 테스트를 모두 수행할 수 있습니다. 테스트 전에 모듈에 적합한 기능을 다운로드하면 여러 가지 테스트 상황에서 동일한 하드웨어를 재사용할 수 있습니다.
프로토콜 분석기로 구성된 키사이트 1735A 모듈에는 2개의 독립된 전이중 분석 하위 시스템이 포함되어 있어 각각 직관적인 고차원적 다중 레벨, 다중 분기 트리거링과 필터링 순서기를 통해 대용량 트레이스 버퍼에 관련 정보를 포착할 수 있습니다. 모든 분석기 간에 시간 상관이 제공되어 시스템 수준의 다중 포트 측정이 가능합니다.
SAN 테스터 어플리케이션과 함께 능동 테스터로 구성된 키사이트 1735A 모듈을 사용하면 데이터, 오류, 링크, 패브릭 제어 및 패브릭 서비스 테스트의 어떠한 조합으로도 1~4Gb/s의 와이어 속도로 2개의 독립된 포트에서 광 채널 트래픽을 생성할 수 있습니다. 이 새로운 모듈은 범용 멀티유저, 다중 프로토콜의 확장 가능한 N2X 섀시에서 기존의 키사이트 1730B 및 1733A 모듈과 동시에 사용할 수 있기 때문에 기존의 투자 가치가 보호됩니다. 각 포트는 독립적으로 설정 및 작동시킬 수 있고 동시 라인 속도 트래픽 생성 및 실시간 연속 측정 기능을 제공합니다. 테스트가 실행되는 도중에도 실시간 측정이 가능하여 DUT의 작동 상태를 실시간으로 확인할 수 있습니다.