DDR3 및 LPDDR3 인증의 시뮬레이션-측정 상관관계와 워크플로우
W2350EP DDR3 인증 테스트 벤치는 시뮬레이션-측정 상관관계 문제 해결을 지원합니다. 과거에는 EDA 벤더의 인증 툴을 사용해서 제조 전 설계를 시뮬레이션하고 테스트할 수 있었습니다. 또한 제조 후 프로토타입은 테스트 및 측정 계측기 벤더의 인증 툴을 사용해서 벤치 테스트를 할 수 있었습니다. 그러나 인증에 대한 두 벤더의 독립적 접근법 사이에 존재하는 미묘한 차이 때문에 두 가지를 상관시키는 것은 거의 불가능했습니다. 이로 인해 제조 전 설계는 통과하고 제조 후 프로토타입은 실패할 가능성이 생겼고 시간과 비용이 많이 드는 설계 스핀이 필요하게 되었습니다. 이와는 대조적으로, DDR3 인증 테스트 벤치는 키사이트 Infiniium 오실로스코프에 사용되는 것과 정확히 동일한 업계 최고의 인증 앱을 사용합니다. DDR3 인증 테스트 벤치는 실제 하드웨어 테스트 벤치를 모방하며, “파형 브리지”라는 스크립팅 기술을 사용해, 랩에서 테스트를 할 때 Infiniium 앱이 수신하는 것과 동일한 파형을 발산합니다. 따라서, 의심의 여지가 없는 정확히 동일한 테스트가 제조 전 시뮬레이션 설계와 실제 제조 후 프로토타입에 적용됩니다. DDR3 인증 테스트 벤치는 DDR3뿐만 아니라 LPDDR3도 지원합니다.
제품 자체는 시뮬레이션 테스트 벤치(Simulated Test Bench)와 파형 브리지(Waveform Bridge) 스크립트의 두 부분으로 구성되어 있습니다.
시뮬레이션 테스트 벤치
시뮬레이션 테스트 벤치는 부회로, 즉 DDR 컨트롤러, 채널, 그리고 DDR 메모리 칩으로 구성되어 있습니다. 회로는 전제 조건 ADS Transient Simulator에 따라 실행됩니다. 일반적인 칩 I/O는 기존의 IBIS 모델로 대표되지만 IBIS나 설계에 보다 한정된 넷리스트 모델을 통해 이들 중 하나 또는 둘 다 스웹 아웃할 수 있습니다. 마찬가지로, 일반 채널 모델 캐스케이드(컨트롤러 패키지, 마더보드, DIMM 커넥터, DIMM PCB, 메모리 패키지)의 일부 또는 전부를 레이아웃 전 또는 레이아웃 후 모델로 대체할 수 있습니다. 예를 들어, 전자(EM)장 솔버는 레이아웃 후 마더보드의 바이트 레인에 대한 S-파라미터 모델을 만들 때 사용할 수 있습니다.
파형 브리지 스크립트
제조 전 설계를 반영하기 위해 시뮬레이션 테스트 벤치를 채택하면, Transient 시뮬레이션이 실행되면서 데이터세트에 적절한 파형을 작성합니다. 파형 브리지 스크립트는 데이터세트의 파형을 선택한 다음 이것을 Infiniium 인증 테스트 어플리케이션이 분석할 수 있는 파일에 작성하는 후처리 단계입니다.
U7231C DDR3 및 LPDDR3 인증 테스트 어플리케이션과 함께 사용
파형 브리지가 작성한 파일은 Infiniium 9000 및 90000 시리즈 오실로스코프용 U7231C DDR3 및 LPDDR3 인증 테스트 어플리케이션에 입력할 수 있습니다. 이 어플리케이션이 오프라인/원격 모드로도 제공되기 때문에 오실로스코프의 라이브 데이터에서 실행될 뿐만 아니라 저장된(“오프라인”) 데이터를 사용해서도 실행할 수 있습니다. 또한, 어플리케이션을 “원격” 모드로도 실행할 수 있기 때문에 오실로스코프에 임베드된 PC뿐만 아니라 모든 Windows PC(ADS)Advanced Design System)를 실행하는 PC 포함)에서 실행할 수 있습니다. 이러한 방식으로 제작 전 설계 시뮬레이션에서 실행한 테스트가 이후 프로토타입 제작 시 실행될 테스트와 정확히 동일하다는 것을 보장할 수 있습니다.
일반적인 구성
- W2210BP/BT ADS 코어+Transient Convolution
- W2350EP/ET ADS DDR3 인증 테스트 벤치
- N8900A-001 Infiniium Offline
- N8900A-002 DSA 패키지(EZJIT Plus 및 SDA)
- U7231C-1TP DDR3 및 LPDDR3 인증 이동형 라이센스
참고: 위에 나열된 관련 소프트웨어 제품(Related Software Products)은 옵션 및 액세서리(Options & Accessories ) 탭을 참조하십시오.