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일반적인 사양  

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E4727A Advanced Low-Frequency Noise Analyzer

제품 구성

가격: 한국

* 가격은 예고 없이 변경될 수 있습니다. 본 가격은 제조사가 제안한 소매가격(MSRP)입니다(VAT별도).

관련 소프트웨어 제품

  • No image available WaferPro Express 

    WaferPro Express

    • Performs automated wafer-level measurements of semiconductor devices
    • Provides turnkey drivers and test routines
    • Key software component of Wafer-level Measurement Solution, a joint partnership program with Cascade Microtech
       

  • IC-CAP 디바이스 모델링 소프트웨어 -- 측정 제어 및 파라미터 추출 IC-CAP 디바이스 모델링 소프트웨어 -- 측정 제어 및 파라미터 추출 

    IC-CAP 디바이스 모델링 소프트웨어 -- 측정 제어 및 파라미터 추출

    Industry standard for DC and RF semiconductor device modeling. IC-CAP extracts accurate compact models used in high speed/digital, analog and power RF circuit design applications.

  • No image available MBP(Model Builder Program) 

    MBP(Model Builder Program)

    • 빠른 시뮬레이션을 위한 내장 SPICE 엔진
    • 산업 표준 모델을 위한 자동 추출 패키지
    • 특수 모델링을 위한 턴키 솔루션
    • 계층적이고 복잡한 파운드리 라이브러리에 대한 완벽한 지원

  • No image available MQA(Model Quality Assurance) 

    MQA(Model Quality Assurance)

    • 한 플랫폼에 전체 QA 플로우 통합
    • 모든 시뮬레이터를 위한 공용어(즉, 규칙 파일)
    • 포괄적 검사 루틴 및 시뮬레이터 지원
    • 유연한 자동 보고 기능

관련 제품 및 솔루션

  • Agilent B1500A Semiconductor Device Analyzer B1500A 반도체 디바이스 분석기 

    B1500A 반도체 디바이스 분석기

    Windows 기반의 반도체 디바이스 특성 분석 계측기로서, 직관적인 터치 스크린 인터페이스를 통해 CV와 IV를 통합 측정합니다.

  • E5260A 8-Slot High Speed Measurement Mainframe E5260A 8-Slot High Speed Measurement Mainframe 

    E5260A 8-Slot High Speed Measurement Mainframe

    High-speed parametric test solution for semiconductor, RFIC, and optical component testing

  • E5270B 8-Slot Precision Measurement Mainframe E5270B 8-Slot Precision Measurement Mainframe 

    E5270B 8-Slot Precision Measurement Mainframe

    A flexible, expandable, and upgradeable solution for semiconductor characterization

  • 4142B Modular DC Source/Monitor 4142B Modular DC Source/Monitor [단종] 

    4142B Modular DC Source/Monitor [단종]

    The 4142B was discontinued on July 1, 2003, and became obsolete on September 1, 2008.

  • No image available 4155B / 4156B Semiconductor Parameter Analyzers [단종] 

    4155B / 4156B Semiconductor Parameter Analyzers [단종]

    The 4155B and 4156B were discontinued on December 1, 2000 and became obsolete on February 1, 2006.

  • 4155C 4155C Semiconductor Parameter Analyzer [단종] 

    4155C Semiconductor Parameter Analyzer [단종]

    The 4155C offers all inclusive instrument solutions and easy operation for various parametric tests. Both can be used with bundled notebook PC or as stand alone instruments.

  • No image available B1510A/B1511B/B1517A (B1500A-A10/A11/A17) Source Measure Units (SMUs) 

    B1510A/B1511B/B1517A (B1500A-A10/A11/A17) Source Measure Units (SMUs)

    • 4-quadrant source and measurement for accurate IV characterization down to fA
    • Measurement range 0.1 fA - 1 A / 0.5 µV - 200 V
    • Spot, sweep, pulse and sampling measurement capabilities
    • QS-CV measurement with leak current compensation