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전문가 상담

제품 구성

가격: 한국

* 가격은 예고 없이 변경될 수 있습니다. 본 가격은 제조사가 제안한 소매가격(MSRP)입니다(VAT별도).

주요 특징 및 사양

주요 특징

  • 동종 최고의 사용자 인터페이스
  • 메모리 병렬 테스트
  • 전압 모니터링
  • 우수한 신호 품질

NPI 기능

  • 테스트 분석에 이상적인 설계 구조
  • TPR(Test Point Reduction) 보고서
  • 다중 체인 생성

테스트 개발

  • 커넥터 및 넌바운더리 스캔 IC의 테스트 커버리지 극대화
  • 탁월한 디버그 툴
  • 실행 가능한 핀 레벨 결함 보고
  • 인시스템 프로그래밍

어플리케이션

  • Netcom 및 서버 제품에 대한 우수한 테스트 커버리지
  • 보드 테스트용 IEEE 1687 솔루션
  • 스캔 경로 링커 자동 구성

내용

x1149는 PCBA의 단선 및 단락 테스트 같은 구조적 테스트를 위한 툴로서 FPGA와 CPLD 같은 디바이스의 인시스템 프로그래밍도 실행할 수 있습니다.

또한 PROM(Programmable Read-Only Memory) 디바이스의 프로그래밍과 DDR SDRAM(Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory)의 메모리 검증 테스트도 가능합니다.

IEEE 1149.1 바운더리 스캔 표준을 완전히 준수하고 있는 x1149는 광범위한 테스트 커버리지를 바탕으로 바운더리 스캔 디바이스와 연결된 PCBA의 대부분을 테스트할 수 있습니다. 또한 혁신적인 CET를 도입하여 테스트 커버리지가 IEEE 1149.1 디바이스를 넘어 커넥터, 소켓, 그리고 IEEE 1149.1 기반이 아닌 디바이스까지도 포함하도록 넓어졌습니다. 키사이트 x1149는 AC 커플링 버스 라인에 대해 IEEE 1149.6 표준도 지원합니다.

내장된 스캔 체인 링커는 다중 스캔 체인을 하나로 통합하여 바운더리 스캔 디바이스 간 인터커넥트 노드에 대한 커버리지를 극대화합니다.

이제 IEEE 1687 표준이 Keysight x1149 바운더리 스캔 분석기에서 지원됩니다.