소스 측정 장치

• IV/CV에서부터 펄스형/transient IV 측정까지, 다양한 디바이스 특성 분석의 모든 측면을 위한 완전한 솔루션
• 효율적 특성 분석을 위한 임베드 Windows 7의 GUI 기반 EasyEXPERT 소프트웨어
• 최대 10개 슬롯까지 구성 및 확장 가능

B2900A 시리즈 정밀 SMU는 비용 효율적인 소스/측정 솔루션으로 최상의 성능과 동급 최강의 GUI를 제공합니다. 폭넓은 범위, 뛰어난 정밀도 및 유용성은 빠른 테스트, 디버그 등에 효과적입니다.

A flexible family of products, with solutions for both precise parametric measurement of semiconductor devices and high speed testing of components (E5260A, E5262A, E5263A and E5270B).

키사이트 N6785A는 최대 20V, 최대 8A, 최대 80W의 배터리 구동식 대형 모바일 디바이스의 배터리 드레인 분석을 위해 특별히 고안된 소스/측정 장치(SMU)입니다.

키사이트 N6786A는 최대 20V, 최대 8A, 최대 80W의 배터리 구동식 대형 모바일 디바이스의 내부 구성요소를 기능 테스트하기 위해 특별히 고안된 소스/측정 장치(SMU)입니다.

키사이트 N6781A는 배터리 드레인 분석을 위해 특별히 개발된 소스/측정 장치(SMU)입니다.

키사이트 N6782A는 디바이스의 고급 기능 테스트 작업을 위해 특별히 설계된 소스/측정 장치(SMU)입니다.

The Keysight N6784A is a source/measure unit (SMU) designed for general-purpose precision sourcing and measurement.

N6705C DC 전력 분석기는 DUT에서 DC 전압과 전류를 소싱 및 측정하는 작업 효율을 업계 최고 수준으로 향상시켜줍니다.

• N6715C는 완벽한 테스트와 조립을 거쳐 DC 전력 분석기로 출시되는 맞춤 제작 시스템입니다. 각각의 N6715C는 1개의 N6705C 메인프레임과 1 ~ 4개의 모듈로 구성됩니다.
• 모듈은 N6715C 의 옵션으로 주문할 수 있습니다.

• 광범위한 조건 하에서 정밀한 테스트(1500A, 10kV, Sub-pA, 10μs, μΩ, -50℃~+250℃)
• 폭 넓은 디바이스 분석 기능(Qg, Rg, Ciss, Coss, Crss)
• 개선된 효율성(자동 테스트, 안전 환경, 패키지형 DUT, 온웨이퍼)
• 업그레이드와 확장 가능한 아키텍처

High-speed parametric test solution for semiconductor, RFIC, and optical component testing

High-speed parametric test solution for semiconductor, RFIC, and optical component testing needs

A flexible, expandable, and upgradeable solution for semiconductor characterization

High-speed parametric test solution for semiconductor, RFIC, and optical component testing needs

U2722A is a SMU that can operate in a 4-quadrant operation. The channels could be connected in series/in parallel for higher power.

The U2723A USB Modular Source Measure Unit is a 3-channel 20V/120mA that can operate in a 4-quadrant operation. It has embedded test scripts that will simplify automated testing with up to two test scripts per channel.