메달리스트 i3070
IEEE 1149.6 지원 경계 스캔 및 기타 특수 테스트 기능을 통해 Medalist i3070 ICT는 현재와 같이 복잡한 PCBA에서도 탁월한 테스트 커버리지를 제공합니다. 프로그램 및 사용이 간편한 i3070은 테스트 커버리지, 안정성 및 재현성에서 이미 우수성을 입증했습니다.
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- E9903E 4-Module In-Circuit Test (ICT) System, i307x Series 5 (1)
- E9903G 4-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i307x 시리즈 6 (1)
- E9988E 인라인 2모듈 회로 내 테스트 시스템. i337x, 시리즈 5i (1)
- E9988EL 인라인 2-모듈 인-서킷 테스트 시스템, i337x, 시리즈 5i (1)
- E9902E 2-Module In-Circuit Test (ICT) System, i307x Series 5 (1)
- E9902G 2-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i317x 시리즈 6 (1)
- E9905E 2-Module In-Circuit Test (ICT) system, i307x series 5 (1)
- E9905EL 2-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i307x 시리즈 5 (1)
- E9901E 1-module In-Circuit Test (ICT) System, i327x Series 5 (1)
