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메달리스트 i3070

IEEE 1149.6 지원 경계 스캔 및 기타 특수 테스트 기능을 통해 Medalist i3070 ICT는 현재와 같이 복잡한 PCBA에서도 탁월한 테스트 커버리지를 제공합니다. 프로그램 및 사용이 간편한 i3070은 테스트 커버리지, 안정성 및 재현성에서 이미 우수성을 입증했습니다.

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  • E9903E 4-Module In-Circuit Test (ICT) System, i307x Series 5 E9903E 4-Module In-Circuit Test (ICT) System, i307x Series 5 

    E9903E 4-Module In-Circuit Test (ICT) System, i307x Series 5

    The E9903E offers max 5184 nodes testing plus the new Series 5 infrastructure for flexible external electronics connection and higher analog testing throughput

  • E9903G 4-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i307x 시리즈 6 E9903G 4-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i307x 시리즈 6 

    E9903G 4-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i307x 시리즈 6

    E9903G는 최대 5184개 노드를 지원하며, 시리즈 6는 전체 물리적 설치 공간을 38% 줄이면서도 디지털 테스트를 최대 4배 더 빨리 실행합니다.

  • E9988E 인라인 2모듈 회로 내 테스트 시스템. i337x, 시리즈 5i E9988E 인라인 2모듈 회로 내 테스트 시스템. i337x, 시리즈 5i 

    E9988E 인라인 2모듈 회로 내 테스트 시스템. i337x, 시리즈 5i

    • E9988E는 최대 2592개의 노드 테스트를 제공합니다. SMEMA 호환성을 위해 엄격한 사양으로 제작되어 기존의 SMT 라인에 쉽게 통합됩니다.

  • E9988EL 인라인 2-모듈 인-서킷 테스트 시스템, i337x, 시리즈 5i E9988EL 인라인 2-모듈 인-서킷 테스트 시스템, i337x, 시리즈 5i 

    E9988EL 인라인 2-모듈 인-서킷 테스트 시스템, i337x, 시리즈 5i

    • 짧은 와이어 고정 기술로 이동성, 반복성, 안정성 보장
    • 혁신적 설계로 손쉬운 유지보수와 픽스처 변경 보장
    • 길이가 800 mm 또는 31.5”에 불과한 컴팩트한 섀시

  • E9902E 2-Module In-Circuit Test (ICT) System, i307x Series 5 E9902E 2-Module In-Circuit Test (ICT) System, i307x Series 5 

    E9902E 2-Module In-Circuit Test (ICT) System, i307x Series 5

    The E9902E offers max 2592 nodes testing plus the new Series 5 infrastructure for flexible external electronics connection and higher analog testing throughput

  • E9902G 2-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i317x 시리즈 6 E9902G 2-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i317x 시리즈 6 

    E9902G 2-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i317x 시리즈 6

    E9902G는 최대 2592개 노드를 지원하며, 시리즈 6는 전체 물리적 설치 공간을 기존에 비해 16% 줄이면서도 SiliconNails 및 바운더리 스캔을 최대 4배 더 빨리 실행합니다.

  • E9905E 2-Module In-Circuit Test (ICT) system, i307x series 5 E9905E 2-Module In-Circuit Test (ICT) system, i307x series 5 

    E9905E 2-Module In-Circuit Test (ICT) system, i307x series 5

    The E9905E offers max 2592 nodes testing plus the new Series 5 infrastructure for flexible external electronics connection and higher analog testing throughput

  • E9905EL 2-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i307x 시리즈 5 E9905EL 2-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i307x 시리즈 5 

    E9905EL 2-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i307x 시리즈 5

    • 최대 노드 수 : 2592개
    • 최대 채널 수 : 576개
    • 풋프린트 : 0.93m (H) x 0.95m (W) x 0.77 (D)

  • E9901E 1-module In-Circuit Test (ICT) System, i327x Series 5 E9901E 1-module In-Circuit Test (ICT) System, i327x Series 5 

    E9901E 1-module In-Circuit Test (ICT) System, i327x Series 5

    The E9901E offers max 1296 nodes testing plus the new Series 5 infrastructure for flexible external electronics connection and higher analog testing throughput

  • E9986E 인라인 4모듈 인-서킷 테스트 시스템, i367x 시리즈 5i E9986E 인라인 4모듈 인-서킷 테스트 시스템, i367x 시리즈 5i 

    E9986E 인라인 4모듈 인-서킷 테스트 시스템, i367x 시리즈 5i

    키사이트 i3070 시리즈 5i 4모듈 인라인 ICT는 i3070 시리즈 5i 패키지의 최신 시스템입니다. 키사이트 고유의 짧은 와이어 고정 기술이 장착된 4모듈 인라인은 크고 무거운 보드(최대 15kg)를 처리하도록 설계되었습니다.

  • N1128A-001 i3070 LED Test Box N1128A-001 i3070 LED Test Box 

    N1128A-001 i3070 LED Test Box

    • Tests up to 64 LEDs in less than 1.3 seconds.
    • Measures LED color in the 400-660nm range.
    • Returns intensity measurement in μW/cm2.

  • PCB 테스트 및 검사 서비스 PCB 테스트 및 검사 서비스 

    PCB 테스트 및 검사 서비스

    실질적 제조 문제를 해결해주는 전문화되고 지역화된 가동 지원 및 종합 서비스