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전문가 상담

액세스 제한 테스트 제품

보드는 점차 복잡해지고 있고, 소비자 제품에는 더욱 복잡하고 작은 형태의 부품이 사용되어 테스트를 위한 접근을 어렵게 만들며, 라이프사이클이 점차 짧아지는 동시에 예산은 줄어들고 있습니다.

키사이트의 Dynamic Test Access Suite는 작은 형태의 부품으로 밀집된 보드에 대해 자동 테스트 및 픽스쳐 솔루션을 제공하여 ICT에서 난해한 액세스 문제를 해결합니다.

다음은 더 적은 수의 핀으로 보다 큰 커버리지를 얻도록 지원하는 몇 가지 기술입니다.

  • 키사이트 메달리스트 ICT 시스템에서 키사이트 Interconnect Plus 경계 스캔 – 점차 복잡해지는 디바이스의 테스트 작업을 개선시킵니다. 키사이트의 경계 스캔 솔루션은 빠른 수리를 위한 핀 레벨 진단과 함께 빠르고 자동화된 합격/불합격 테스트를 제공합니다. 키사이트는 경계 스캔 분야에서 선두를 달리고 있는 업체 중 하나로서 예를 들어, 경계 스캔 테스트 셀과 이러한 셀의 구성 방식을 설명하기 위해 IC 공급업체가 제공하는 파일인 BSDL 표준을 개발했습니다.
  • 자동화 Silicon Nails - 경계 스캔 체인을 사용하여 비 경계 스캔 디바이스를 자동으로 테스트함으로써 IEEE 1149.1를 한 단계 발전시킵니다.
  • 키사이트 DriveThru – 기존의 키사이트 TestJet 기술 프로브를 사용하여 직렬 종단 부품의 존재 유무를 확인할 수 있습니다.
  • MagicTest – 패시브 아날로그 부품을 위한 클러스터 테스트를 자동으로 생성하는 동시에 부품 레벨까지 진단을 제공합니다.
  • 키사이트 액세스 컨설턴트 - 키사이트 Magic Test, 키사이트 Interconnect Plus 경계 스캔을 비롯하여 키사이트 3070 테스트 모음에 속한 기타 도구들을 이용하여 수집한 분석 데이터를 이용하여 가장 효과적인 프로브 배치를 안내합니다.
  • 키사이트 AwareTest - 제조 현장에서 다수의 테스트 셀을 연결시켜 더욱 넓은 테스트 커버리지, 낮은 비용, 개선된 효율성 및 빠른 시장 출시를 실현시켜줍니다. 키사이트 AwareTestxi는 보드 복잡성이 증가하고 노드 액세스가 사라지더라도 ICT 및 AXI 기술을 단순한 통합 노력과 결합시켜 불량 커버리지를 높여줍니다.
  • Access Consultant Access Consultant 

    Access Consultant

    Software that ties all the different limited-access tools together to let you better manage which strategy suits your needs better

  • Bead Probe Technology Bead Probe Technology 

    Bead Probe Technology

    Increase test access even on high-speed traces and space-constrain PCBAs. Its layout independent nature means that trace-routing is not disrupted with the addition of bead probes unlike how test pads do

  • DriveThru DriveThru 

    DriveThru

    Used in conjunction with VTEP, DriveThru gives the user the ability to test both a device pin and the passive component leading to the device pin with just 1 test point

  • IEEE 1149.1 InterconnectPlus Boundary Scan IEEE 1149.1 InterconnectPlus Boundary Scan 

    IEEE 1149.1 InterconnectPlus Boundary Scan

    Compliant to the IEEE 1149.1 standard, this Keysight boundary-scan solution provide a fast, automated pass/fail test along with pin-level diagnostics for speedy repair.

  • IEEE 1149.6 Boundary Scan IEEE 1149.6 Boundary Scan 

    IEEE 1149.6 Boundary Scan

    Extend boundary scan to test high-speed AC-coupled differential signals in accordance to IEEE

  • Silicon Nails Silicon Nails 

    Silicon Nails

    Test non-boundary scan devices by using devices which are boundary scan-enabled to act as driver/receivers.

  • N1169A-003 Cover-Extend Technology N1169A-003 Cover-Extend Technology 

    N1169A-003 Cover-Extend Technology

    Hybrid technology between the VTEP vectorless capacitive coupling technology and boundary scan.