AiP設計の無線(OTA)テスト方法

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統合したテスト環境でAiP設計をテスト

ミリ波周波数(mmWave)でのアンテナ・イン・パッケージ(AiP)設計のテストには、高出力、超低位相雑音、広い解析帯域幅、高いダイナミックレンジ備えた無線(OTA)テストシステムが必要です。 これらの機能は、5Gや衛星アプリケーション向けのミリ波周波数でのOTAテストにおける測定性能を向上させます。 このシステムは、マイクロ波信号発生器、シグナル・アナライザ、信号発生・測定ソフトウェアで構成されていることが必要です。 これに加え、ビームフォーマーとAiPモジュールも必要です。

マイクロ波信号発生器は、高出力を実現し、システム損失を補います。 ビームフォーマーは、信号発生器からの5G NR信号をビームフォーミングでミリ波帯に送信します。 同時にAiPモジュールは、解析のためその信号をシグナル・アナライザに供給します。 広いダイナミックレンジとエラーベクトル振幅(EVM)を備えたシグナル・アナライザは、5G NRのすべての信号パラメータを正確に解析し、AiP設計の特性評価を行うことが可能です。

ミリ波・アンテナ・イン・パッケージ・テスト・ソリューション

ミリ波・アンテナ・イン・パッケージ・テスト・ソリューション

ミリ波周波数でのAiP設計の正確な特性評価には、統合した環境でのOTAテストが必要です。 信号生成・解析ハードウェアと測定・解析ソフトウェアを組み合わせたキーサイトのミリ波AiPソリューションにより、AiP設計を無線でテストし、すべてのNR信号パラメータを解析するための統合テスト環境を実現します。
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