Highlights

  • 3つの周波数オプション:1 MHz~500 MHz/1 GHz/3 GHz、アップグレード可能
  • ±0.65%の基本確度および120 mΩから52 kΩのインピーダンス・レンジ(10 %の測定確度レンジ)
  • 測定パラメータ:|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、|Γ|、Γx、Γy、θΓ、Vac、Iac、Vdc1、Idc1 (1.オプション001が必要)
  • 内蔵DCバイアス(オプション001):0 V~±40 V、0 A~±100 mA
  • 4チャネル/4トレースをタッチ・スクリーン機能搭載10.4インチ・カラーLCDで表示可能
  • データ解析機能:等価回路解析、リミット・ライン・テスト
  • 誘電/磁性材料の測定(オプション002):|εr|、εr'、εr''、tanδ(ε)、|μr|、μr'、μr''、tanδ(μ)
  • 温度特定測定(オプション007)および信頼性の高いオンウェーハ測定(オプション010)機能
     

E4991Bインピーダンス・アナライザは、1 MHz~3 GHzの周波数レンジを備えています。E4991Bは、業界最高の0.65 %の基本確度を広いインピーダンス・レンジにわたって実現し、40 VのDCバイアス電源(オプション001)を内蔵しています。等価回路解析機能は、7種類の異なるマルチパラメータ・モデルをサポートし、設定した等価パラメータの値でコンポーネントをシミュレートすることができます。

3つの周波数オプション(1 MHz~500 MHz/1 GHz/3 GHz)および周波数アップグレードにより、可能な投資に対応した最適なオプションを選択できます。

材料測定オプションには、温度特性解析機能(オプション007)および誘電率と透磁率の直接測定機能(オプション002)があります。

プローブ・ステーション接続キット(オプション010)は、オンウェーハ/マイクロコンポーネントの3 GHzまでの正確なインピーダンス測定ソリューションを実現します。

E4991Bは、測定を簡素化し高い信頼性を得るためにデザインされたさまざまなテスト・アクセサリをサポートしています。

E4991Bは、研究開発、品質管理、検査のいずれに携わる場合でも、電子部品や半導体デバイス/材料の評価のための最適なソリューションです。

アプリケーション例:

  • パッシブ・コンポーネント:コンデンサ、インダクタ、フェライト・ビーズ、抵抗、水晶/セラミック共振子などのチップ・コンポーネントのインピーダンス測定。
  • 半導体コンポーネント:バラクタ・ダイオードのC-V特性解析および等価直列抵抗測定。 
  • 誘電材料:プラスチック、セラミックス、プリント回路基板の誘電率/損失係数の評価。 
  • 磁性材料:フェライト、アモルファスなどの磁性材料の透磁率および損失係数の評価。

追加情報
RF IV, suitable for accurate impedance evaluation Equivalent circuit analysis (7 models) Material meas. (opt. 002) Temperature characteristic test (opt. 007) On-wafer impedance meas. with probe station (opt. 010) 4 channels, 4 traces
Basic Accuracy
0.65%
DCバイアス
Option 001 40 V
周波数レンジ
1 MHz to 500M/1 G/3 GHz
測定範囲(確度<10%)
120 mΩ to 52 kΩ
追加情報
Basic Accuracy
DCバイアス
周波数レンジ
測定範囲(確度<10%)
RF IV, suitable for accurate impedance evaluation Equivalent circuit analysis (7 models) Material meas. (opt. 002) Temperature characteristic test (opt. 007) On-wafer impedance meas. with probe station (opt. 010) 4 channels, 4 traces
0.65%
Option 001 40 V
1 MHz to 500M/1 G/3 GHz
120 mΩ to 52 kΩ
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追加情報:
RF IV, suitable for accurate impedance evaluation Equivalent circuit analysis (7 models) Material meas. (opt. 002) Temperature characteristic test (opt. 007) On-wafer impedance meas. with probe station (opt. 010) 4 channels, 4 traces
Basic Accuracy:
0.65%
DCバイアス:
Option 001 40 V
周波数レンジ:
1 MHz to 500M/1 G/3 GHz
測定範囲(確度<10%):
120 mΩ to 52 kΩ

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