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アプリケーションノート
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はじめに
テスト機器の役割は、デザインの性能特性を評価し、被試験デバイスが期待通りに機能するか検証することですが、試験を効果的に実行するには、テスト機器の性能が被試験デバイスよりも優れている必要があります。そこで、テスト機器に起因する測定の不確かさを最小限に抑えるために、テストベッド上の全コンポーネントを注意深く検討しなければなりません。
本アプリケーションノートでは、テストシステムのテスト信号に起因する測定の不確かさを最小限に抑える方法について説明します。
RFベクトル信号発生器を使用して、信号品質に優れたベクトル変調信号を得る方法についてご覧ください。
ベクトル信号発生器
今日の通信システムにおけるデジタル変調方式の普及に伴い、システムテストの多くはベクトル信号発生器(VSG)に移行してきました。VSGは2台の任意波形発生器(AWG)を備え、図1で示すように複雑なベースバンドI/Q信号を生成します。
この2台のAWGが、内蔵ベースバンドジェネレーターのRAM（ランダムアクセスメモリ）にダウンロードされている波形セグメントの再生シーケンスを制御します。ベースバンドジェネレーターの出力I/Q信号は、I/Q変調器に伝わり、中間周波数(IF)とRFにアップコンバートします。RF出力セクションには増幅器、アッテネータ、自動レベリング制御(ALC)回路が含まれ、出力レベルの精密な制御を維持しています。次のセクションでは、これらのサブシステムによる誤差の一般的な原因と、その解消方法について説明します。
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