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NX5730A 高スループット1 nsパルスドIVメモリ・テスト・ソリューション

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主要な特長と機能
  • スピン・トランスファー・トルク磁性抵抗ランダム・アクセス・メモリなどの新しいメモリの高精度かつ高速な特性評価(シリコンウエハーでのDC測定から高速パルスドIV測定まで)
  • STT-MRAMの磁気トンネル接合(MTJ)に正確で高速なパルスド電圧(最小1 nsパルス)を印加して、MTJの抵抗を高い精度で測定
  • すべての代表的なMTJ特性評価テストを1つのソリューションで実行
  • 10~100倍高速化したサイクルテスト(ビット・エラー・レート・テスト(BERT)など)
  • 書き込みパルス中のMTJスイッチング波形を捕捉してクリアに表示キーサイトの技術専門知識を統合した専用ソリューション

この製品で利用できるソフトウェア

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プレシジョン電流/電圧アナライザ
  • 複数のSMUの統合と特性評価ソフトウェアの組み合わせによる、IV特性評価の大幅な高速化/簡素化
  • あらゆる特性評価作業に対応するEasyEXPERT group+ソフトウェア
  • さまざまな測定ニーズに対応する豊富なアナライザ
     

* 価格: 日本. 参考価格、標準納期は予告無く変更されることがあります。詳しくはお問い合わせ下さい。 価格は希望小売価格です