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C1281A ASUR 単一デバイスの信頼性 (ASUR SDR)

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概要

  • 単一サイトのデバイスの信頼性
  • 統一されたハードウェアとソフトウェアによる信頼性ソリューション
  • コア・ウェハー・システム PDQ-WLR® アルゴリズム
  • 対話式測定および低価格パラメトリック試験

近代製造における信頼性試験とパラメトリック試験のための
優れたコスト効率と拡張性に富むシステム

キーサイトの先進の拡張性に富む統合された信頼性 (ASUR) の製品ファミリは、異なるニーズ、予算、経験レベルおよび計画に応じてソリューションを提供します。単一デバイス信頼性 (ASUR SDR) 製品は、PC と測定器ベースのソリューションで、実証済みの試験アルゴリズムを使い、最新の装置を投入して 1 度に 1 デバイスの信頼性試験をおこないます。ASUR SDR は、複数の試験サイトで並列試験をおこなう ASUR PDR を補完します。

ASUR SDR は、高性能低価格の加速信頼性試験およびパラメトリック試験ソリューションです。測定器ベースのソリューションで、実証され た Core Wafer Systems PDQ-WLR の加速技法を統合した単一サイト試験ソリューションです。ASUR SDR は、1 つのハードウェア、1 つのソフトウェアで測定器からシステム・テスタまで、オンウェハーからパッケージまで拡張できる ASUR の一つです。

確信の持てる信頼性試験

ASUR の中の JEDEC 標準の信頼性試験アルゴリズムは 5 代目です。このスイートは、完全に試験され、10 年を越えるフィールドにおける経験と検証に支えられています。

  • エレクトロマイグレーション (EM)
  • バイアス温度ストレス (BTS)
  • ゲート酸化物の完全性 (GOI)
  • ホット・キャリア注入 (HCI)
  • バイアス温度の不安定性 (BTI)

サポートされるキーサイト製品:

  • Keysight 4155/6 B/C
  • Keysight E5250、B2200、B2201 スイッチ・マトリックス
  • Keysight 81110A, 8114A パルス発生器
  • Keysight 4284A CV メータ
  • Keysight 4294A インピーダンス・アナライザ
  • Keysight E5288A ASU アット-センス・ユニット
  • Keysight 41000-400 ~ 41000-100 シリースのシステム
  • Keysight 電源

PDQ-WLR は、Core Wafer Systems 社の登録商標です。